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NFP/FFP同時計測装置-NFP/FFP同時計測装置
NFP/FFP同時計測装置-シナジーオプトシステムズ株式会社

NFP/FFP同時計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要

NFP/FFP同時観察計測装置は、NFP計測 (近視野像観察) とFFP計測 (遠視野像観察) を同一の光学系で実現した装置です。従来、NFP計測とFFP計測は別々の専用光学系を用いて計測する必要がありました。当社製NFP/FFP同時計測光学系M-Scope type Dを使用することで、光学系の交換をすることなくNFP/FFPの同時計測が可能となります。 当社製各種画像検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビームプロファイル計測・解析に使用することができます。光検出器の選択により、400nm～1,700nm波長帯でのさまざまなシステム構築が可能です。

■特長

・NFP/FFP同時計測光学系M-Scope type Dを使用。NFP計測 (近視野像計測) とFFP計測 (遠視野像計測) を単一光学系で同時計測可能 ・専用光学系と画像処理によるリアルタイム計測 ・FFP計測時のワーキングディスタンスは約17mmの超作動距離。

■光検出器の選択により、400～1700nm波長域測定に対応可能

・可視~1,100nm：高精度CMOS検出器 ISA071, ISA071GLが適しています。 ・950~1,700nm：InGaAs高感度近赤外検出器 ISA041H2等が適しています。

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった　光ビーム解析モジュールAP013

・オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。 ・光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエアOptimetrics BA Standard　当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。

■高いシステム拡張性

・各種精密位置決めステージとの組み合わせによるシステムアップが可能。 ・各種自動精密位置決めステージ・画像処理との組み合わせにより、調整工程の自動化にも対応可能。

■主な応用

・各種光デバイス・光モジュールのNFP/FFP同時計測 ・各種光導波路の出射端面NFPと放射角度分布 (N.A.) の計測 ・バタフライモジュール第一レンズ (コリメータレンズ) ・第二レンズ (集光レンズ) の実装調整やビーム品質の評価等

  • シリーズ

    NFP/FFP同時計測装置

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NFP/FFP同時計測装置 品番1件

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NFP/FFP同時計測装置-品番-NFP/FFP同時計測装置

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存 件

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