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エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置-エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置
エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置-シナジーオプトシステムズ株式会社

エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要

EF (エンサークルドフラックス) /EAF (エンサークルドアンギュラーフラックス) 計測装置は 、光ファイバ端面のNFP画像 (ニアフィールドパターン：近視野像) 、FFP画像 (ファーフィールドパターン：遠視野像) を画像処理・解析し、GI型/SI型マルチモード光ファイバのモード伝播状態を光学的に計測・解析する装置です。光学系は、当社製NFP計測光学系M-Scope type S (EF計測用) 、FFP計測光学系MScope type F (EAF計測用) を使用、2次元画像検出器および当社製EF/EAF測定機能付光ビーム解析モジュールAP013との組合せによりEF/EAF計測を迅速・簡単に実行できます。 特長

■光学系＋画像処理方式による迅速・簡単なEF/EAF計測を実現

・エンサークルドフラックス計測装置には当社製高機能NFP計測光学系M-Scope type Sを使用 (簡易型NFP計測光学系M-Scope type Lも使用可能) 。 ・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置には当社製FFP計測光学系M-Scope type Fを使用。

■光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエアOptimetrics BA Standard

・当社が光ビームプロファイル計測用に独自開発した画像処理・解析ソフトウエア。EF/EAF計測機能に対応。 ・EF/EAF測定機能を強化、標準化パラメータ測定機能を搭載　エンサークルドフラックス・結合パワー係数等、光ファイバの性能評価において特に重要なモード分布の解析が可能。

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュールAP013

オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能

■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能

・可視-1,100nm：高精度CMOS検出器 ISA071, ISA071GLが適しています。 ・950-1,700nm：InGaAs高感度近赤外検出器 ISA041H2等が適しています。 ・400~1,700nm：【NEW】InGaAs高分解能近赤外検出器 ISA041HRA (SXGA) /HRVA (VGA)

  • シリーズ

    エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置

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エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
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エンサークルドフラックス・エンサークルドアンギュラーフラックス計測装置

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使用用途

#表面検査 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法 反射法 透過法

機能

三次元測定 高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000

データ保存 件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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シナジーオプトシステムズ株式会社

  • 本社所在地: 静岡県

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