ワイドエリア拡張型FFP計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要ワイドエリア拡張型FFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、計測対象光束径約4.24mmのワイドエリアFFP光学系 M-Scope type FSWを使用した放射角度分布 (ファーフィールドパターン) 測定装置です。専用設計のワイドエリアFFP計測光学系 M-Scope type FSWと2次元画像検出器・画像処理方式の組合せで、大面積発光素子や大口径光ファイバからの出射ビームの放射角度分布 (FFP:ファーフィールドパターン) をリアルタイムで取得・測定可能です。

当社製光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせによるFFP計測システムの構築も可能です。また、エンサークルドアンギュラーフラックス解析等の光パワー分布解析にも応用可能です。

特長
■ワイドエリア拡張型FFP計測光学系 M-Scope type FSWを使用、広い測定対象光束径をカバー。・専用設計のワイドエリア対応f-θレンズ光学系＋画像処理解析方式。全角度のFFPを迅速に解析可能。調整も容易。
・測定対象光束径約4.24mmφ。広い発光面積のサンプルをカバーするワイドエリア設計。
・ワーキングディスタンス約9mmの長作動距離設計。

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013・オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
・光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard

■主な応用・大発光面積レーザ素子やアレイ型レーザ素子のFFP計測 ・出射N.A.計測
・大口径光ファイバのFFP計測 ・出射N.A.計測
・レンズ等の各種光学モジュールのFFP計測 ・N.A.計測

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
ワイドエリア拡張型FFP計測装置

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法反射法透過法

機能

三次元測定高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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この商品の取り扱い会社情報

シナジーオプトシステムズ株式会社

本社所在地: 静岡県

ワイドエリア拡張型FFP計測装置 シナジーオプトシステムズ株式会社

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■概要

■ワイドエリア拡張型FFP計測光学系 M-Scope type FSWを使用、広い測定対象光束径をカバー。

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013

■主な応用

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