FFP計測装置
シナジーオプトシステムズ株式会社

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この製品について

■概要FFP (ファーフィールドパターン) 計測装置は、半導体レーザや光ファイバ、光導波路、光モジュール等のFFP (ファーフィールドパターン：遠視野像) を計測する装置です。光学系は当社のFFP計測光学系 M-Scope type Fを使用、当社製各種光検出器・光ビーム解析モジュール AP013との組み合わせにより、さまざまな光デバイスのFFP計測・放射角度分布計測・出射N.A.計測・解析に使用することができます。光検出器の選択により、可視域から光通信の1,550nm近赤外波長帯までさまざまなシステム構築が可能です。

特長
■FFP計測光学系 M-Scope type Fを使用・専用光学系＋画像処理解析方式。調整も容易、全角度のFFPを迅速に解析可能。
・ワーキングディスタンス約6mmの長作動距離設計。
・ARコートにより可視域用・近赤外域用の2機種を準備。近赤外域用 (650~1700nm帯ARコート品) ：M-Scope type F。可視域用 (400~650nm帯ARコート品) ：M-Scope type F/BL

■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能・400~1100nm：高精度CMOS検出器 ISA071, ISA071GL等
・950~1700nm：InGaAs高感度近赤外検出器 ISA041H2等
・【NEW】400~1700nm：InGaAs高分解能近赤外検出器 ISA041HRA

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール　AP013・オールインワンパッケージで導入後直ちに使用が可能。
・光ビームプロファイル計測用に開発された光ビーム計測・解析ソフトウエア Optimetrics BA Standard

■主な応用・各種光デバイス・光モジュールのFFP計測・解析　半導体レーザ、光ファイバ、光導波路、光モジュールのFFP解析
・各種光デバイス・光コンポネントのN.A.計測・解析　光ファイバ、光配線導波路、バタフライモジュール等のN.A.解析
・マルチモード光ファイバのエンサークルドアンギュラーフラックス解析

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
FFP計測装置

取扱企業
シナジーオプトシステムズ株式会社

カテゴリ

測定機器

光学測定器

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使用用途

#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整

測定原理

干渉法反射法透過法

機能

三次元測定高速測定

波長範囲 nm

0 - 200 200 - 400 400 - 700 700 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 20,000

データ保存件

50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000

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この商品の取り扱い会社情報

シナジーオプトシステムズ株式会社

本社所在地: 静岡県

FFP計測装置 シナジーオプトシステムズ株式会社

この製品について

■概要

■FFP計測光学系 M-Scope type Fを使用

■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能

■解析装置・光ビーム解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データがセットになった光ビーム解析モジュール AP013

■主な応用

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