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RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」-OURSTEX160RoHS
RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」-アワーズテック株式会社

RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」
アワーズテック株式会社



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この製品について

■WEEE/RoHS指令に対応 レアアースの分析に最適

2006年7月にEU (欧州連合) で施行されたRoHS指令では電気・電子機器への特定有害6物質 (鉛・水銀・カドミウム・六価クロム・PBB・PBDE) の使用が制限されました。 OURSTEX160RoHSではこれらの有害物質を短時間に簡単に測定できます。また小型・軽量なので現場でのオンサイト分析にも最適です。

■特徴

・液体窒素や冷却水不要で100V電源で分析可能 ・高計数率・高分解能により短時間で微量分析が可能 ・WEEE&RoHS規制、ELV指令対応の計測に最適 ・大型試料室で試料を非破壊でそのまま分析可能 ・CCDカメラによる試料位置確認表示

■応用例

・レアアースの分析 ・はんだ中の鉛の分析 ・金属中や電子部品中の有害元素分析

  • シリーズ

    RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」

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RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定原理 測定対象 測定元素 フィルター機構 試料室形状 試料室雰囲気 X線定格出力 検出器 計数回路 使用条件 その他 (オプション)
RoHS指令やELV規制に 蛍光X線分析装置 「OURSTEX160RoHS」-品番-OURSTEX160RoHS

OURSTEX160RoHS

要見積もり

エネルギー分散型蛍光X線分析法

土壌試料、電気・電子部品、プラスティック等

Cr、As、Se、br /、Cd、Hg、Pb (13Al~92U) 等

1次フィルター (2種類) /2次フィルター自動切換機構

W270mm×D250mm×H91mm

大気

48kV,1.75mA 最大50W

電子冷却式シリコンドリフトディテクタ

デジタル処理方式

温度:5~27℃
湿度:20~80%
電源:AC100V~240V、500W
接地:D種接地

検量線標準試料 (PVC・PE・銅合金・アルミ合金)

フィルターから探す

X線分析装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#元素分析 #構造解析 #研究開発 #マッピング #異物検出 #微小部測定 #粉末試料 #薄膜

検出器

FPD HPC検出器 シリコンドリフト検出器

測定可能なq範囲 nm-1

0 - 30 30 - 50

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