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単粒子蛍光診断システム-単粒子蛍光診断システム
単粒子蛍光診断システム-大塚電子株式会社

単粒子蛍光診断システム
大塚電子株式会社

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この製品について

NIMSと共同開発した単粒子診断法※に基づいた測定が可能です。 ※国立研究開発法人 物質・材料研究機構 広崎尚登フェロー、武田隆史研究員との共同研究

■特長

・蛍光体1粒子の蛍光特性が測定可能な高感度システム。 ・1粒子の取り出しから測定までシステム化 ・10μmの粒子を測定可能 ・常温から600℃までの温度依存性測定が可能

■測定項目

・量子効率 (量子収率) ・発光スペクトル ・励起スペクトル ・温度特性

  • シリーズ

    単粒子蛍光診断システム

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単粒子蛍光診断システム 品番1件

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単粒子蛍光診断システム

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波長範囲 nm

100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,500

分解能 nm

0 - 1 1 - 10 10 - 20

重量 kg

0 - 10 10 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 400 400 - 700

測定時間 秒

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 200

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この商品の取り扱い会社情報

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12.9時間

会社概要

大塚電子株式会社は大塚製薬株式会社の子会社で、計測機器及び検査機器などの製造メーカーです。 赤外分光分析装置・ディスクリート方式臨床化学自動分析装置などのME機器、ゼータ電位測定システム・多検体ナノ粒子径測定システムな...

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  • 本社所在地: 大阪府
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