XAFS計測用高計数DSP デスクトップ型 APU504X
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この製品について

放射光施設等でのXAFS (X-ray Absorption Fine Structure) 計測用スペクトロスコピー用デジタルシグナルプロセッシング (DSPDSP) 機能を搭載した放射線計測装置です。従来のスペクトロスコピーアンプを使わずに、SDD 、Si (Li) 、SSD 、Si-Pin などの検出器のプリアンプ信号を直接入力し、高速ADCADC (100MHz ・14 bitbit) と高集積FPGA にてデジタル信号処理を行います。

計測データはHistogram, Quick-Scan があり、ネットワーク経由でPCへ転送します。ROIS-CA機能により予め設定したROI間のピーク検出タイミングとInputタイミングでTTLロジック出力を得ることが可能です。

特徴
■19 素子SSD 分解能 (@ 5.9) ・139 eV : peaking time 6 μs
・250 eV : peaking time 0.5 μs
・*0.25μs equivalent analog

■高分解能型SDD (@ 5.9 keV) ・125 eV: peaking time 2 μs
・145 eV: peaking time 0.5 μs
・*0.25μs equivalent analog

■スループット・1.2Mcps以上

■動作モードHistogram, Quick-Scan

■機能・ROI-SCA など (FAST, SLOW) 
・※オプションFAST-SCA TTL 出力など

■通信I/F・TCP/IP, Gigabit Ethernet
・データ転送20 M Byte 秒以上
・*リストモード時

■用途高計数SDDトランジスタリセットプリアンプ対応、超高計数デジタル信号処理

■検出器SDD、多素子HPGe

■概要SDDに接続されているトランジスタリセットプリアンプ処理を最適化した回路を搭載し超高計数においても高いスループットを維持します。デジタルシグナルプロセッサによってTrapezoidal Filterを行いエネルギー情報を取得します。高分解能ADCを利用して極限までノイズを抑えて高分解能を実現します。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
XAFS計測用高計数DSP デスクトップ型 APU504X

取扱企業
株式会社テクノエーピー

カテゴリ

測定機器

放射線測定器

開発・設計ツール

DSPシステム

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XAFS計測用高計数DSP デスクトップ型 APU504X 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	アナログ入力	Coarse Gain	Fine Gain	ADC	ADC Gain	Trapezoidal Filter	デジタル信号処理	外部端子	外形寸法	重量
	APU504X	要見積もり	4CH, LEMOコネクタ入力インピーダンス1kΩ	x1, x4, x10, x20	x0.5~x1.5	入力信号 ±1V 100Msps, 分解能14-bit	4,096, 2,048, 1,024, 512, 256ch.	0.05~12μs	Baseline Restorer, Pileup Rejecter, CFD, PC から全パラメータ設定	フィルタ波形出力, クロック入力, GATE (Trigger) 入力, VETO入力, クリア入力, クイックスキャンGATE 入力, ROI-SCA 出力	210 (W) x 45 (H) x 275 (D) mm *コネクタ除く	約1,800g