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高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300-Fast Line P300
高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300-日本バーンズ株式会社

高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300
日本バーンズ株式会社



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この製品について

■シリーズ概要

超音波顕微鏡 C-SAM は、半導体パッケージや電子デバイス内部に介在する物理的欠陥を非破壊で観察することができます。 サンプルに対して発信された超音波の反射をとらえ、サンプル内部の任意の深さの状態を画像化することで、接合界面の剥離や封止材内部のボイド、クラックなどの不良箇所を非破壊で測定することができます。 (※超音波顕微鏡は日本国内では SAT という名称で呼ばれることもあります。)

■製品概要

Fast Line P300 は、工場の生産ラインやプロセスコントロールにおける超音波検査の仕様要求を細部まで満たす最新鋭モデル。 AutoScan (自動測定機能) や DIA (良否判定解析ソフト) を組み合わせて検査工程を半自動化することが可能です。※ Windows 7 対応

■製品特長

・新開発高速スキャナー搭載:最速 1,016 mm/秒 ・サンプルセッティング用 L 字型タンク搭載:スキャンエリアとサンプルセッティングエリア検査をしながら次のサンプルを準備可能 ・AutoScan (自動測定機能) ・Sonolytics:新オペレーション・インターフェイス ・Poly Gate:異なる複数の深さを同時にスキャン可能。ゲート幅・位置は任意に設定可能で、最大 100 ゲートの計測が可能 ・連続合否判定用自動解析ツール:Package Region、 DIA (良否判定解析ソフト) 、Tray-Scan ・内蔵式温水循環システム搭載

  • シリーズ

    高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300

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高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300 品番1件

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高精度超音波顕微鏡 生産ライン検査向けハイスピードモデル超音波顕微鏡 Fast Line P300-品番-Fast Line P300

Fast Line P300

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使用用途

#材料評価 #欠陥検出 #接合部検査 #内部構造観察 #半導体検査 #医療診断 #バイオサンプル観察 #マイクロ構造解析 #デバイス評価 #製造プロセス管理 #表面下検査

超音波伝搬モード

透過モード 反射モード スキャンモード

使用周波数帯

低周波型 中周波型 高周波型

試料環境

水浸型 乾式型

周波数帯域 MHz

0 - 1 1 - 10 10 - 30 30 - 100 100 - 200 200 - 500 500 - 1,000

プローブヘッド搭載数

0 - 1 1 - 2 2 - 16

探触子 MHz

0 - 20 20 - 100 100 - 200 200 - 500

質量 kg

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 500

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

日本バーンズ株式会社は、高精度超音波顕微鏡、半導体故障解析装置といった電子・光学機器や、赤外線カメラ、赤外線基準黒体炉、非接触式歪み計測システムといった計測システムの輸入販売をしている会社です。 1969年に創業してア...

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  • 本社所在地: 東京都

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