高品質の回折データを実現する次世代検出器技術 XRD検出ユニット Pixos-Pixos 1000

高品質の回折データを実現する次世代検出器技術 XRD検出ユニット Pixos
株式会社アントンパール・ジャパン

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この製品について

■高品質の回折データを実現する次世代検出器技術・Pixos™検出ユニットに含まれるソリッドステートハイブリッドピクセル検出器は、CERNのTimepix3チップをベースにしています。
・高い空間および時間分解能で個々の光子を検出することにより、1Dモードでの作業時に回折信号の優れた角度分解能が得られます。
・単一光子計数検出器は、低シグナルでも最高品質のデータを提供します。また、最大計数率が高いため、減衰器やビームストップを使用せずにダイレクトビームでの測定が可能です。

■完全真空: 可能な限り低いバックグラウンドでの測定・完全に真空化されたPixos™検出ユニットは、測定中の空気散乱を防ぎ、毎回の測定において最適なS/N比を実現します。これは、PDF分析やSAXSなどのバックグラウンドに敏感な測定や、散乱シグナルが弱い少量サンプルを測定する場合に特に重要です。
・真空二次ビームパスは、TruBeam™コンセプトの他のコンポーネントと組み合わせることで、XRDynamic 500のPixos™検出ユニットで測定可能な高いデータ品質に貢献します。

■市場で最も小さいピクセルサイズによる卓越した分解能Pixos™検出ユニットの検出器は、ピクセルサイズが55µm×55µmと、XRDプラットフォームとしては市場最小であることから、圧倒的な測定分解能を実現しています。この微小なピクセルサイズと、XRDynamic 500のTruBeam™コンセプトに採用されている大型ゴニオメーターとの組み合わせにより、標準的なBragg-Brentano構成での測定において、従来の回折装置よりも20%優れた測定分解能を実現しています。

■自動最適化によるノイズの最小化Pixos™検出ユニットには、スキャンごとに制御ソフトウェアから設定できる高精度の電動散乱防止スリットを搭載しています。モードを選択できるため、定義済みのスリット開口部の設定を読み込んだり、測定シグナルをカットすることなく散乱ノイズを最大限に遮蔽する自動最適化モードを使用して作業を簡素化することもできます。

■対応装置全自動多目的X線回折装置:XRDynamic 500

型番
この商品には3種類の型番があります

シリーズ
高品質の回折データを実現する次世代検出器技術 XRD検出ユニット Pixos

取扱企業
株式会社アントンパール・ジャパン

カテゴリ

測定機器

X線回折装置

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高品質の回折データを実現する次世代検出器技術 XRD検出ユニット Pixos 品番3件

フィルター

品番	価格 (税抜)	検出モード 0D 0D、1D	センサの材質 Si CdTe	最大計数率 6.8×1010cps (全体) 2.65×109cps (行) 、6.8×1010cps (全体)	対応波長全波長全波長 (Cu、Co、Crに合わせて最適化) 全波長 (Mo、Agに合わせて最適化)	ピクセルサイズ 55μm×55μm	ピクセル数 256×256	欠損チャンネル
Pixos 1000	要見積もり	0D	Si	6.8×1010cps (全体)	全波長	-	-	-
Pixos 2000	要見積もり	0D、1D	Si	2.65×109cps (行) 、6.8×1010cps (全体)	全波長 (Cu、Co、Crに合わせて最適化)	55μm×55μm	256×256	0
Pixos 2000 CdTe	要見積もり	0D、1D	CdTe	2.65×109cps (行) 、6.8×1010cps (全体)	全波長 (Mo、Agに合わせて最適化)	55μm×55μm	256×256	0