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磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ-FLS102
磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ-ウェーブクレスト株式会社

磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ
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この製品について

■特徴

・PCBやIC部品等から発生している (電) 磁界の分布を、近傍 (電) 磁界プローブを走査して高分解能測定します。 ・PCBやIC部品等に複雑な凹凸があっても、至近距離で近傍 (電) 磁界アンテナが自動トレースするため高感度測定が可能。 ・専用の解析ソフトにより、2D、3D表示によるノイズ発生状況等を詳細に解析可能。 ・IEC 61967-3 表面走査法に準拠 ・測定周波数レンジ 10Mhz – 3Ghz ・プリアンプ使用時 30dB / 50Ohm ・各種ニアフィールドマイクロプローブ E Filed Probe / ICR E 150 Resolution 65μm / 150μm x 35μm H Filed Probe / ICR HH150 Resolution 80μm / 150μm H Filed Probe / ICR HV150 Resolution 100μm / 150μm

■構成

測定には、スペクトラムアナライザ及びWindows PCが必要となります。

  • シリーズ

    磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ

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2024年2月9日にレビュー

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磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ 品番2件

フィルター
商品画像 品番 価格 (税抜)
可動テーブル部 動作範囲 回転軸
可動テーブル部 位置精度 回転軸
可動テーブル部 リピータビリティ 回転軸
可動テーブル部 最大スピード 回転軸
統合制御コントローラ部 制御用PC 統合制御コントローラ部 ソフトウエア
電源 AC電源入力
磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ-品番-FLS102

FLS102

要見積もり

200 / 150 mm

50mm

+/- 180°

20 μm

20 μm

1°

+/- 20 μm

+/- 20 μm

+/- 1°

500mm/s

200mm/s

90°/s

325 x 450 x 450

12kg

Windows PC

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110 / 230V

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+/- 180°

10 μm

10 μm

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+/- 10 μm

+/- 10 μm

+/- 1°

800mm/s

320mm/s

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使用用途

#放射試験 #伝導試験 #妨害波試験 #静電試験 #雷サージ試験 #磁界試験 #イミュニティ試験 #車載試験 #医療機器試験 #通信機器試験

試験対象特性

放射エミッション試験機 伝導エミッション試験機 放射イミュニティ試験機 伝導イミュニティ試験機

周波数範囲

低周波 高周波 広帯域

制御方式

手動 自動 リモート

X軸動作範囲 mm

100 - 250 250 - 350 350 - 400

Y軸動作範囲 mm

200 - 250 250 - 350 350 - 400

Z軸動作範囲 mm

0 - 75 75 - 100

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