磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ ウェーブクレスト株式会社
この製品について
■特徴
・PCBやIC部品等から発生している (電) 磁界の分布を、近傍 (電) 磁界プローブを走査して高分解能測定します。 ・PCBやIC部品等に複雑な凹凸があっても、至近距離で近傍 (電) 磁界アンテナが自動トレースするため高感度測定が可能。 ・専用の解析ソフトにより、2D、3D表示によるノイズ発生状況等を詳細に解析可能。 ・IEC 61967-3 表面走査法に準拠 ・測定周波数レンジ 10Mhz – 3Ghz ・プリアンプ使用時 30dB / 50Ohm ・各種ニアフィールドマイクロプローブ E Filed Probe / ICR E 150 Resolution 65μm / 150μm x 35μm H Filed Probe / ICR HH150 Resolution 80μm / 150μm H Filed Probe / ICR HV150 Resolution 100μm / 150μm■構成
測定には、スペクトラムアナライザ及びWindows PCが必要となります。-
シリーズ
磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ
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取扱企業
ウェーブクレスト株式会社
ウェーブクレスト株式会社のレビュー (1件)
4.5Metoree経由で見積もりをしたユーザーからのレビュー
投稿した日時: 2024年2月09日
顧客対応への満足度
顧客対応への満足度の理由
初回対応までの時間への満足度
初回対応までの時間
30.22時間
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磁気ノイズ発生状況を高精度で解析 EMCスキャナテスタ 品番2件
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| まとめて問合せ・見積 | 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 可動テーブル部 動作範囲 X / Y軸 | 可動テーブル部 動作範囲 Z軸 | 可動テーブル部 動作範囲 回転軸 | 可動テーブル部 位置精度 X / Y軸 | 可動テーブル部 位置精度 Z軸 | 可動テーブル部 位置精度 回転軸 | 可動テーブル部 リピータビリティ X / Y軸 | 可動テーブル部 リピータビリティ Z軸 | 可動テーブル部 リピータビリティ 回転軸 | 可動テーブル部 最大スピード X / Y軸 | 可動テーブル部 最大スピード Z軸 | 可動テーブル部 最大スピード 回転軸 | 可動テーブル部 外形寸法 | 可動テーブル部 重量 | 統合制御コントローラ部 制御用PC | 統合制御コントローラ部 ソフトウエア | 電源 コントロール | 電源 AC電源入力 |
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FLS102 |
要見積もり | 200 / 150 mm | 50mm | +/- 180° | 20 μm | 20 μm | 1° | +/- 20 μm | +/- 20 μm | +/- 1° | 500mm/s | 200mm/s | 90°/s | 325 x 450 x 450 | 12kg | Windows PC | ChipScan | RS232 | 110 / 230V | |
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FLS103 |
要見積もり | 300mm | 100mm | +/- 180° | 10 μm | 10 μm | 1° | +/- 10 μm | +/- 10 μm | +/- 1° | 800mm/s | 320mm/s | 90°/s | 560 x 640 x 910 | 40kg | Windows PC | ChipScan | RS232 又は USB | 110 / 230V |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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