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残留応力測定-残留応力測定
残留応力測定-株式会社光子発生技術研究所


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この製品について

金属内部の残留応力を測定します。機械部品や構造物などの残留応力をX線の回折現象を利用して計測します。MIRRORCLEでは高エネルギーの白色X線を利用することができるので、深部まで非破壊で測定できます。エネルギー分散方式で測定するため、複雑な形状のものでも測定可能です。

  • シリーズ

    残留応力測定

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残留応力測定 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 光源 X線エネルギー 光学系 検出器 試料形状 X線ビーム径 測定領域 最大測定可能深さ 深さ分解能
残留応力測定-品番-残留応力測定

残留応力測定

要見積もり

MIRRORCLE-CV1

10~100keV

平行光学系

Ge半導体検出器

任意

500μm以下 (測定条件による)

1cm以下 (測定条件による)

鉄で1mm以下 (測定条件による)

1μm以上 (測定条件による)

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