全てのカテゴリ

閲覧履歴

残留応力測定-残留応力測定
残留応力測定-株式会社みらくる分析センター

株式会社みらくる分析センターの対応状況

返答率

100.0%

返答時間

36.6時間


無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

金属内部の残留応力を測定します。機械部品や構造物などの残留応力をX線の回折現象を利用して計測します。MIRRORCLEでは高エネルギーの白色X線を利用することができるので、深部まで非破壊で測定できます。エネルギー分散方式で測定するため、複雑な形状のものでも測定可能です。

  • シリーズ

    残留応力測定

この製品を共有する


70人以上が見ています

最新の閲覧: 5時間前


返答率: 100.0%

返答時間: 36.6時間


無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません


X線回折装置注目ランキング

もっと見る

X線回折装置の製品31点中、注目ランキング上位6点

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

X線回折装置注目ランキング (対応の早い企業)

返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています


残留応力測定 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 光源 X線エネルギー 光学系 検出器 試料形状 X線ビーム径 測定領域 最大測定可能深さ 深さ分解能
残留応力測定-品番-残留応力測定

残留応力測定

要見積もり

MIRRORCLE-CV1

10~100keV

平行光学系

Ge半導体検出器

任意

500μm以下 (測定条件による)

1cm以下 (測定条件による)

鉄で1mm以下 (測定条件による)

1μm以上 (測定条件による)

フィルターから探す

X線回折装置をフィルターから探すことができます

使用用途

#ナノ材料研究 #位相定量分析 #応力解析 #教育実習 #金属材料評価 #結晶構造解析 #建材分析 #鉱物学調査 #製薬品質管理 #半導体薄膜評価

回折方式

粉末回折型 単結晶回折型 薄膜回折型 小角散乱型

光源種別

専用X線管型 シンクロトロン光型 マイクロフォーカス型

検出器構成

単点カウンタ型 一次元検出器型 二次元検出器型

装置構成

卓上型 汎用型 高分解能型 インライン型

測定角度範囲 2θ

0 - 75 75 - 150 150 - 170

この商品を見た方はこちらもチェックしています

X線回折装置をもっと見る

この商品の取り扱い会社情報

  • 本社所在地: 滋賀県

関連キーワード

最近見た製品

Copyright © 2025 Metoree