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超音波厚さ計 72DL PLUS-72DL PLUS
超音波厚さ計 72DL PLUS-株式会社菱光社

超音波厚さ計 72DL PLUS
株式会社菱光社



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この製品について

■概要

高速・高周波数・高精密測定。エビデントの72DL PLUS超音波厚さ計は、高速で精密な厚さ測定が可能な小型で使いやすい装置です。 高速スキャン機能、先進のアルゴリズム、オリンパス史上最少の厚さ測定能力を備え、対応が困難な非常に薄い層の厚さを確実に測定できます。 72DL PLUS厚さ計には、標準周波数モデルと高周波数モデルがあります。 高周波数モデルでは、極薄材料 (多層の塗装、プラスチック、金属、コーティングなど) を測定でき、多層測定ソフトウェアで同時に6層までの厚さを表示可能です。 どの72DL PLUSモデルにも、高速で精密な厚さ測定を行うための機能が搭載されています。

■特長

・堅牢:IP65相当の防塵防滴性能 ・大きく鮮明な画面: 177.8 mm (7インチ) 高解像度タッチスクリーンWVGAディスプレイ ・多用途に対応するレイアウト:A-スキャン、B-スキャン、A/B-スキャン、傾向、ズームの各測定レイアウトが厚さ変化を正確に表示 ・カスタマイズ可能:標準周波数モデルと高周波数モデル:多層測定ソフトウェアオプションあり/なし ・長寿命バッテリー:最大8連続時間 ・効率的なデータ管理:内蔵のデータログ機能とPCインターフェースアプリケーションがデータ収集とレビューを高速化 ・接続性:ワイヤレスLANとに対応 ・クラウド技術対応:Olympus Scientific Cloud™ (OSC) や対応するOSCアプリへのワイヤレス接続 ・アプリケーション設定が容易:カスタムアプリケーションを作成して定期検査の機器設定時間を短縮

  • シリーズ

    超音波厚さ計 72DL PLUS

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社菱光社は、1950年に設立された精密測定機器等を販売する専門商社です。 創業当初は、発電機、自転車等の重工関連の販売を行っていましたが、1950年ごろ、ニコンの投影機一型の代理店となったことから、光学、精密測定...

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  • 本社所在地: 東京都
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