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X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX-K-MSX
X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX-株式会社菱光社

X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX
株式会社菱光社



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この製品について

■概要

300mmまでの半導体プロセスウエハや200mm□までの試料を非破壊かつ絶対膜厚・密度測定、組成評価が可能な装置です。

■特長

・X線反射率ユニット、蛍光X線ユニット、斜入射蛍光X線ユニットを搭載可能。 ・各種用途に合わせた測定に対してユニットの選択が可能です。 X線ユニットのご紹介

■X線反射率 (XRR)

金属膜や透明膜など薄膜・膜厚・密度の絶対値を測定します。

■蛍光X線 (XRF)

・金属膜の膜厚を短時間で測定します。 ・化合物の組成比を測定します。 ・膜厚と組成同時測定が可能です。

■射入射蛍光X線 (GI-XRF)

・金属膜の超薄膜を精度よく測定します。 ・下地膜の影響なしで評価可能です。 ・膜厚・組成同時測定が可能です。 アプリケーション

■有機膜 (単層膜 膜厚測定)

X線反射率法は光干渉式の膜厚計と異なり光学係数の影響を受けないため、光学係数の影響を受けやすい試料の面内均一性を高精度で測定可能です。

■積層構造 (積層膜 膜厚測定

X線反射率法により得られた振幅波形から、積層された膜の膜厚値と密度値を同時に測定できます。

  • シリーズ

    X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX

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X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜)
X線膜厚測定機 膜密度組成測定装置 K-MSX-品番-K-MSX

K-MSX

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

株式会社菱光社は、1950年に設立された精密測定機器等を販売する専門商社です。 創業当初は、発電機、自転車等の重工関連の販売を行っていましたが、1950年ごろ、ニコンの投影機一型の代理店となったことから、光学、精密測定...

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  • 本社所在地: 東京都
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