全てのカテゴリ

閲覧履歴

プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-Flat-Type 55 μm
プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-ニデックアドバンステクノロジー株式会社

プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe
ニデックアドバンステクノロジー株式会社

ニデックアドバンステクノロジー株式会社の対応状況 返信の早い企業

返答率

100.0%

返答時間

7.7時間


無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブを開発。Flat-Typeは寸法精度の向上を行っております。

  • シリーズ

    プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe

この製品を共有する


170人以上が見ています


返答率: 100.0%

返答時間: 7.7時間


無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません


コンタクトプローブ注目ランキング

もっと見る

コンタクトプローブの製品179点中、注目ランキング上位6点

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています

コンタクトプローブ注目ランキング (対応の早い企業)

返答時間が24時間以内の企業の中での注目ランキング

電話番号不要

何社からも電話が来る心配はありません

一括見積もり

複数社に同じ内容の記入は不要です

返答率96%

96%以上の方が返答を受け取っています


プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe 品番1件

次の条件に該当する商品を1件表示しています

商品画像 品番 価格 (税抜)
プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-品番-Flat-Type 55 μm

Flat-Type 55 μm

要見積もり

フィルターに該当する他製品

コンタクトプローブの中で同じ条件の製品
使用用途: 基板検査

フィルターから探す

コンタクトプローブをフィルターから探すことができます

使用用途

#基板検査 #半導体テスト #バッテリー充電 #信号伝送 #通信機器 #電子機器 #高周波測定 #大電流測定 #抵抗測定 #インピーダンス伝送量測定

Tip形状

コーン ピラー

Tip高さ nm

100 - 200 200 - 300 300 - 500 500 - 600

バネ圧 N

0 - 1 1 - 2 2 - 4 4 - 6

ストローク耐久性 回

5,000 - 20,000 20,000 - 100,000 100,000 - 200,000

使用雰囲気温度 ℃

-50 - 0 0 - 50 50 - 100 100 - 150

接触抵抗値 mΩ

50 - 100 100 - 1,000 1,000 - 60,000

この商品を見た方はこちらもチェックしています

コンタクトプローブをもっと見る

この商品の取り扱い会社情報

会社概要

日本電産リード株式会社は、半導体パッケージやプリント基板の検査装置などの製造開発・販売を主力事業とする企業です。 検査機器の心臓部を担う高性能ICとソフトウェアや、細かい単位で加工・組立を行う装置ハードウェア、さらに...

もっと見る

  • 本社所在地: 京都府

関連キーワード

最近見た製品

Copyright © 2025 Metoree