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プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-Flat-Type 55 μm
プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-ニデックアドバンステクノロジー株式会社

プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe
ニデックアドバンステクノロジー株式会社

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この製品について

MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブを開発。Flat-Typeは寸法精度の向上を行っております。

  • シリーズ

    プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe

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プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe 品番1件

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プリント基板&半導体パッケージ基板検査システム用 NS Probe-品番-Flat-Type 55 μm

Flat-Type 55 μm

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会社概要

日本電産リード株式会社は、半導体パッケージやプリント基板の検査装置などの製造開発・販売を主力事業とする企業です。 検査機器の心臓部を担う高性能ICとソフトウェアや、細かい単位で加工・組立を行う装置ハードウェア、さらに...

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