強化されたX’Pertプラットフォーム X'Pert³シリーズ X'Pert³ MRD XL-X'Pert³ MRD XL

強化されたX’Pertプラットフォーム X'Pert³シリーズ X'Pert³ MRD XL
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■薄膜単結晶解析X線回折装置長い歴史と高い評価を誇るMalvern Panalyticalの薄膜単結晶解析X線回折装置  (MRD)  は、X’Pert³ MRD XL世代でも採用されています。 新しいプラットフォームの向上したパフォーマンスと信頼性により、X線散乱法の分析能力と機能を強化し、次の分野に対応しています。

・最先端材料物性
・研究ならびに工業用薄膜技術
・半導体プロセス開発での計量特性評価

X’Pert³ MRD XLは、最大200mmまでの完全なウェハーマッピングにより広範なアプリケーションに対処します。

■機能・X'Pert³ Extended MRD  (XL)  
X'Pert³ Extended MRD  (XL)  は、X'Pert³ MRDシステムの範囲に高い汎用性をもたらします。 追加のPreFIX取り付けプラットフォームにより、X線ミラーと高分解能単色光分光器をインラインで取り付けることができ、入射光の散乱強度が大幅に増強します。

データ品質を落とすことなくさまざまなアプリケーションでメリットを得ることができ、高い散乱強度の高分解能X線レーザ回析により、逆空間マッピング測定などの測定時間を短縮し、PreFIXコンセプトにより数分で標準設定から拡張設定に再構築できます。 第2世代のPreFIXにより、簡単に再設定し、光学装置の位置をこれまでになく正確に決定できます。

・X'Pert³ MRD  (XL)  In-plane
X'Pert³ MRD  (XL)  システムをIn-Plane回折に組み込むことで、サンプル表面に対して平行な格子面からの回折を測定できるようになります。

また、1つのシステムで標準配置とIn-Plane配置の分析が可能であるため、多結晶薄膜や単結晶薄膜でさまざまな回折測定を行うことができます。これらは、多数の利点の中の一部にすぎません。 

■仕様・将来のニーズに対応する優れたシステムの柔軟性
X'Pert³ MRDシステムは、研究からプロセス開発やプロセス管理に至るまで、高度で革新的なX線回折ソリューションを提供します。 使用されている技術により、すべてのシステムフィールドを既存のすべてのオプションと、今後のハードウェアとソフトウェの新しい機能に対応するようアップグレードできるようになります。

型番
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シリーズ
強化されたX’Pertプラットフォーム X'Pert³シリーズ X'Pert³ MRD XL

取扱企業
スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

カテゴリ

測定機器

X線回折装置

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2025年9月3日にレビュー

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強化されたX’Pertプラットフォーム X'Pert³シリーズ X'Pert³ MRD XL 品番1件

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使用用途

#ナノ材料研究 #位相定量分析 #応力解析 #教育実習 #金属材料評価 #結晶構造解析 #建材分析 #鉱物学調査 #製薬品質管理 #半導体薄膜評価

回折方式

粉末回折型単結晶回折型薄膜回折型小角散乱型

光源種別

専用X線管型シンクロトロン光型マイクロフォーカス型

検出器構成

単点カウンタ型一次元検出器型二次元検出器型

装置構成

卓上型汎用型高分解能型インライン型

測定角度範囲 2θ

0 - 75 75 - 150 150 - 170

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会社概要

1948年設立、X線回折装置や蛍光X線装置などを製造、販売するパナリティカル社（オランダ）と1967設立、粒子計測装置などを製造・販売するマルバーン社（イギリス）という長い歴史を持つ２つのメーカーが１つになり、誕生したの...

本社所在地: 兵庫県

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