高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ Epsilon 4-Epsilon 4

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ Epsilon 4
スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

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高速で正確なアットラインの元素分析

実績あるEpsilon 3シリーズのXRF分光計の経験と成功に基づいて設計されたEpsilon 4は、R&Dからプロセス管理の分野でフッ素  (F)  からアメリシウム  (Am)  まで元素分析が必要なあらゆる業界に対応する多機能装置です。 最新の励起/検出技術と完成された分析ソフトウェアが融合し、スマートにデザインされたEpsilon 4の分析性能は、強力な床置き型のXRF分光計に匹敵します。

■概要・場所を選ばないEpsilon 4
Epsilon 4は、構造上の要件がほとんどないため、場所を気にせずに生産ラインの近くに配置することができます。 その高性能により、さまざまな環境条件でほとんどの用途に使用でき、ヘリウムや真空の保守費用を削減できます。

■分析以上の価値エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、炭素  (C)  からアメリシウム  (Am)  までの元素分析を実行し、サブppmから100wt％までの濃度範囲に対応できます。 
Omnianではスタンダードレス分析、異同識別  (フィンガープリント)  ソフトウェアでは分析速度が重要な物質テスト、Stratosでは被膜、表面層および多層構造体の迅速かつシンプルな非破壊分析をそれぞれ行うことができます。 

FDA 21 CFR Part 11などの規制に準拠しているEnhanced Data Securityを使用できます。また、未使用および使用済み潤滑油中の燃料とバイオ燃料混合物を定量化するためにOil-Traceを使用することもできます。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ Epsilon 4

取扱企業
スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

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高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ Epsilon 4 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	サンプルハンドリング	X線管球	検出器	ソフトウェア
	Epsilon 4	要見積もり	取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ分光計は直径52 mm (2インチ) までのサンプルに対応できます...	金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性軽元素 (Na、Mg、Al、Si) 用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析...	高分解能シリコンドリフト検出器 (SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒 (50%の不感時間) ...	Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる元素スクリーニング FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析...