シリーズ
高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ Epsilon 4商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | サンプルハンドリング | X線管球 | 検出器 | ソフトウェア |
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Epsilon 4 |
要見積もり |
取り外し可能な10ポジションサンプルチェンジャ 分光計は直径52 mm (2インチ) までのサンプルに対応できます |
金属セラミック製サイドウィンドウによる高い安定性 軽元素 (Na、Mg、Al、Si) 用高感度50マイクロメートル薄型ベリリウムウィンドウ 最高性能のAgアノードX線管によるP、S、およびCl分析 |
高分解能シリコンドリフト検出器 (SDD) (通常135 eV @ Mn-Kα) 最大カウントレート: 1,500,000カウント/秒 (50%の不感時間) |
Omnianスタンダードレス分析ソリューションによる元素スクリーニング FingerPrintソリューションによる合格/不合格分析 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。