微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能ターゲット断面試料作製システム EM TXP-EM TXP

微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能ターゲット断面試料作製システム EM TXP
ライカマイクロシステムズ株式会社

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この製品について

光学顕微鏡から電子顕微鏡まで幅広いニーズに対応した、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置。ビギナーには入りやすく、ベテランにはよりハイグレードな試料作製が可能です。

■微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能試料の特定箇所を狙った正確なミリング、切断、研削および研磨作業は、ターゲットを見失いやすく、きわめて時間を要する難しい作業でした。ライカEMTXPを使用すれば、微小領域のターゲットサンプリングを短時間で簡単に行うことができます。

■実体顕微鏡による作業行程中のターゲットの観察試料は、ピポット・アームの調節により、治具に対して-30°～60°の角度で加工および観察ができます。60°の角度では、試料断面を正面から観察できます。また、-30°の角度にアームを調節すると、観察光路に対して試料を90°に配置でき、試料トップを接眼レンズ内のテンプレートにより簡易計測することができます。

■主な機能・特長・微小ターゲットを狙うための性格な角度調整とアプローチ
・高性能実体顕微鏡による観察
・多機能、セミ・オート機械式システムによる加工
・断面の研磨行程は、自動制御が可能