微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能 ターゲット断面試料作製システム EM TXP ライカマイクロシステムズ株式会社
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この製品について
光学顕微鏡から電子顕微鏡まで幅広いニーズに対応した、切断・研磨専用に開発されたユニークなターゲット断面作製装置。ビギナーには入りやすく、ベテランにはよりハイグレードな試料作製が可能です。
■微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能
試料の特定箇所を狙った正確なミリング、切断、研削および研磨作業は、ターゲットを見失いやすく、きわめて時間を要する難しい作業でした。ライカEMTXPを使用すれば、微小領域のターゲットサンプリングを短時間で簡単に行うことができます。■実体顕微鏡による作業行程中のターゲットの観察
試料は、ピポット・アームの調節により、治具に対して-30°～60°の角度で加工および観察ができます。60°の角度では、試料断面を正面から観察できます。また、-30°の角度にアームを調節すると、観察光路に対して試料を90°に配置でき、試料トップを接眼レンズ内のテンプレートにより簡易計測することができます。■主な機能・特長
・微小ターゲットを狙うための性格な角度調整とアプローチ ・高性能実体顕微鏡による観察 ・多機能、セミ・オート機械式システムによる加工 ・断面の研磨行程は、自動制御が可能-
シリーズ
微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能 ターゲット断面試料作製システム EM TXP
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取扱企業
ライカマイクロシステムズ株式会社
微小領域のターゲットサンプリングが短時間で可能 ターゲット断面試料作製システム EM TXP 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) |
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EM TXP |
要見積もり |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
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