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メトロロジーキット-株式会社データ・デザイン

メトロロジーキット
株式会社データ・デザイン

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この製品について

特徴

■Artec メトロロジーキットとは

変形分析や試験、検査などの高精度を求められる産業用途向けの3D光学座標計測システムです。この計測キットは現状のワークフローに統合できる順応性を持ち、ワークショップや屋外でも完璧な成果を得ることができます。 またControl XやPolyWorksなどの主要なソフトウェアとも互換性があります。 このキットは単独で光学計測ソリューションとしても使用できる他、3Dスキャニング時に更に高精度な寸法や距離の計測を行うための参照ツールとしても機能します。また計測キットプラグインを使用することにより、Artec Studio上で3Dスキャニングとフォトグラメトリのワークフローすべてを網羅することができます。

■DAkkS認定の6Dof光学計測

計測キットは最大30.3メガピクセルの解像度で28mmのワイドアングルレンズを備えたカメラ、計測用ターゲット、アダプター、スケールバーで構成されています。

■使用場所を選びません

頑丈で携帯性に優れたケースが付いており、持ち運びが可能です。またダイナミックレファレンスにより動いているオブジェクトもキャプチャできるため、従来の計測機器や他の3D計測ツールが使用できない場所での作業にも最適です。

■他ソフトウェアとの互換性

取得したデータはGeomagic Control XやPolyWorks、その他の産業界を牽引するソフトウェアと互換性があります。

■品質検査

高精度の光学座標測定システムにより、航空機の構成部品や船舶、風力タービンなどのオブジェクトを、信頼性がありなおかつ分かりやすい工程で検査することができます。

■信頼性の高い精度

データセットの精度を向上させることで、高い再現性を要求される使用事例でも確信を持った検査を行うことができます。

■ワークフローへの組み込み

3DメッシュやCADモデルとの比較、寸法や距離の計測など、取得したデータを現在実施しているワークフローで活用いただけます。

  • シリーズ

    メトロロジーキット

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株式会社データ・デザインは、データ関連の課題を解決するソリューションの提案を行っている企業です。 1989年に会社を設立し、ソフトウェア開発サービス提供を始めています。以降は、1993年に3次元CADシステム、1994...

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