膜厚モニター FE-300F
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この製品について

■概要高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの筺体を採用し、安定したデータの取得を実現しました。低価格でありながらも絶対反射率の取得により、光学定数の解析も可能です。

■特長・小型・低価格・簡単操作で膜厚測定
・分光器、光源の選択により測定膜厚範囲の選択可能
・条件設定や測定操作が簡単。どなたでも手軽に測定可能
・リアルタイムモニター機能やシュミレーション機能などを搭載
・測定スポット径φ3mm (標準) で、3nm～35μmの薄膜から厚膜まで
・幅広い測定に対応

■測定項目・絶対反射率測定
・膜厚解析 (10層) 
・光学定数解析 (n：屈折率、k：消衰計数) 

測定対象
■機能性フィルム、プラスチック透明導電膜 (ITO、銀ナノワイヤー) 、位相差フィルム、偏光フィルム、ARフィルム、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、接着剤、粘着剤、プロテクトフィルム、ハードコート、耐指紋剤など

■半導体化合物半導体、Si、酸化膜、窒化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、 SOI、Sapphire、など

■表面処理DLCコート、防錆剤、防曇剤、など

■光学材料フィルタ、ARコート、など

■FPDLCD (CF、ITO、LC、PI) 、OLED (有機膜、封止剤) 、など

■その他HDD、磁気テープ、建材、など

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
膜厚モニター FE-300F

取扱企業
大木理工機材株式会社

カテゴリ

メーター・計測機器

膜厚計

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膜厚モニター FE-300F 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	メーカー	測定波長範囲	測定膜厚範囲 (SiO2換算)	スポット径	サンプルサイズ	測定時間	電源	寸法、重量	その他
	FE-300F	要見積もり	大塚電子株式会社	300~800nm	3nm~35μm	φ1.2mm	φ200×5 (H) mm	0.1~10s以内	AC100V±10% 300VA	280 (W) ×570 (D) ×350 (H) mm、24kg	リファレンスプレート、レシピ作成サービス