膜厚モニター FE-300F
大木理工機材株式会社
大木理工機材株式会社の対応状況
返答率
100.0%
平均返答時間
38.8時間
この製品について
■概要
高精度な光干渉法による膜厚測定を簡単操作で実現した小型で低価格な膜厚計です。必要な機器を本体部に収納したオールインワンタイプの筺体を採用し、安定したデータの取得を実現しました。低価格でありながらも絶対反射率の取得により、光学定数の解析も可能です。■特長
・小型・低価格・簡単操作で膜厚測定 ・分光器、光源の選択により測定膜厚範囲の選択可能 ・条件設定や測定操作が簡単。どなたでも手軽に測定可能 ・リアルタイムモニター機能やシュミレーション機能などを搭載 ・測定スポット径φ3mm (標準) で、3nm～35μmの薄膜から厚膜まで ・幅広い測定に対応■測定項目
・絶対反射率測定 ・膜厚解析 (10層) ・光学定数解析 (n：屈折率、k：消衰計数) 測定対象■機能性フィルム、プラスチック
透明導電膜 (ITO、銀ナノワイヤー) 、位相差フィルム、偏光フィルム、ARフィルム、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、接着剤、粘着剤、プロテクトフィルム、ハードコート、耐指紋剤など■半導体
化合物半導体、Si、酸化膜、窒化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、 SOI、Sapphire、など■表面処理
DLCコート、防錆剤、防曇剤、など■光学材料
フィルタ、ARコート、など■FPD
LCD (CF、ITO、LC、PI) 、OLED (有機膜、封止剤) 、など■その他
HDD、磁気テープ、建材、など-
シリーズ
膜厚モニター FE-300F
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取扱企業
大木理工機材株式会社
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カテゴリ
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膜厚モニター FE-300F 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | メーカー | 測定波長範囲 | 測定膜厚範囲 (SiO2換算) | スポット径 | サンプルサイズ | 測定時間 | 電源 | 寸法、重量 | その他 |
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FE-300F |
要見積もり | 大塚電子株式会社 | 300~800nm | 3nm~35μm | φ1.2mm | φ200×5 (H) mm | 0.1~10s以内 | AC100V±10% 300VA | 280 (W) ×570 (D) ×350 (H) mm、24kg | リファレンスプレート、レシピ作成サービス |
