電子顕微鏡 (SEM・TEM) 自動測定機能を進化させた新型モデル走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR-JSM-IT710HR

電子顕微鏡 (SEM・TEM) 自動測定機能を進化させた新型モデル走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR
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この製品について

■概要・FE電子銃搭載の汎用SEM　
・自動機能も進化し、走査電子顕微鏡の総合力を大きく向上

特長
■SEM像とEDS分析の取得を自動化 「Simple SEM」・SEM像の取得条件と視野の選択を行うだけで、あとは自動でSEM像とEDS (エネルギー分散X線分光法) 分析の取得を行う機能
・分析業務を含めたルーティンワークの効率化に貢献

■その場で3D像を構築「Live3D」SEM観察しながらその場で3D像を構築し、凹凸・深さ情報を取得

■従来システム約5倍のエリアの光学像を取得「ステージナビゲーションシステムLS」・観察試料の光学像を取得し、光学像をクリックするだけで目的の観察視野へ移動が可能
・従来のステージナビゲーションシステムと比較して約5倍のエリアの光学像を取得

■低真空下でも詳細な凹凸情報を取得　「低真空ハイブリッド二次電子検出器 (LHSED) 」二次電子が残留ガス分子に衝突した際に発生する電子と励起光を検出することで、低真空下でも詳細な凹凸情報が取得可能

■5軸モーター試料ステージ5軸モーター試料ステージを標準搭載し、凹凸試料のSEM画像取得やEDS分析も可能

■電子銃の安定性を向上電子ビーム安定度をさらに向上させ、多試料を同時に搭載可能な試料ホルダーを用いた、長時間の連続自動運転に対応

■JSM-IT710HRのコンセプト自動測定機能を進化させた新型モデルです。シンプルな光学系・検出システムと、SEM-EDSのワークフローを考えたユーザーインターフェイスにより、誰でも簡単に高解像度の画像の取得と同時に元素分析ができるSEMを目指しました。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
電子顕微鏡 (SEM・TEM) 自動測定機能を進化させた新型モデル走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR

取扱企業
明伸工機株式会社

カテゴリ

観察機器

電子顕微鏡

観察機器

透過型電子顕微鏡

観察機器

走査型電子顕微鏡

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電子顕微鏡 (SEM・TEM) 自動測定機能を進化させた新型モデル走査電子顕微鏡 JSM-IT710HR 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	分解能	写真倍率	表示倍率	電子銃	加速電圧	照射電流	低真空圧力設定範囲	開き角最適化レンズ	対物レンズ絞り	自動機能	最大試料寸法	試料ステージ	画像モード	画像サイズ	撮影補助機能	操作支援機能	OS	観察モニター	EDS機能	データ管理	レポート作成ワンクリックレポート	排気系
	JSM-IT710HR	要見積もり	高真空モード：1.0nm (20kV) 3.0nm (1.0kV) 分析時：3.0nm (15kV 照射電流3nA) 低真空モード：1.8nm (15kV BED)	×5~×600,000 (128mm×96mmを表示サイズとして倍率を規定)	×15~×1,767,305 モニター上の画像倍率 (377mm×283mmを表示サイズとして倍率を規定)	ショット―キ電界放出電子銃	0.5kV~30kV	数pA~300nA	10Pa~150Pa	組込み	4段 XY微調整機能付き	ビームアライメントフォーカス/非点/明るさ/コントラスト調整	200mm径×75mm高さ 200mm径×80mm高さ※ 32mm径×90mm高さ※ ※オプションホルダーが必要です	大型ユーセントリック式 X：125mm Y：100mm Z：80mm 傾斜：－10~90° 回転：360°	二次電子像、REF像、組成像、凹凸像、立体像、PD像、低真空二次電子像	640×480　1,280×960 2,560×1,920　5,120×3,840	モンタージュ撮影、Simple SEM、Zeromag、Live 3D	レシピ (標準レシピ/カスタムレシピ) 計測 (2点間距離、平行線間隔、角度、直径等) 試料交換ナビゲーション信号深さ表示三次元測定	Microsoft Windows 10 64bit	23.8型タッチパネル	EDSの仕様参照	SMILE VIEW™ Lab	Microsoft®︎ World®︎への出力 Microsoft®︎ PowerPoint®︎への出力	完全自動 TMP：1台　SIP：2台　RP：1台