パーティクルカウンタ表面汚染測定器QIII
株式会社MCC

株式会社MCCの対応状況

返答率

100.0%

返答時間

23.4時間

返信の比較的早い企業

無料
見積もり費用は無料です、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

この製品について

QIIIは表面上の粒子をわずか数秒で測定

■特徴・数秒で (QIIIMax) 0.3μm以上 (QIIIUItra) 0.1μm以上の粒子を検知
・多様なプローブ形状ラインナッブで測定困難箇所を簡便

■このような方に最適・クリーンルーム内にある各種製造装置に用いられる構成部品を洗浄した後、その洗浄度を確認
・従来の洗浄度確認方法では時問が掛かり過ぎる
・従来の方法では洗浄度の確認が困難な箇所を調べたい
・クリーニングの手順と基準を定量的に規定したい
・発塵源の特定などのトラブルシューティング

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
パーティクルカウンタ表面汚染測定器QIII

取扱企業
株式会社MCC

カテゴリ

FA機器

自動計量機

測定機器

粉塵測定器

測定機器

粒子径分布測定装置

この商品に関する問題を報告する

50人以上が見ています

返答率: 100.0%

無料
見積もり費用は無料のため、お気軽にご利用ください

電話番号不要
不必要に電話がかかってくる心配はありません

パーティクルカウンタ表面汚染測定器QIII 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	粒径表示 (μm)	サイズ	重量	入力電力	ディスプレイ	GUI	センサー	出力	プローブフェイスプレート
	QIIIMax	要見積もり	6チャンネル 0.3/0.5/1.0/3.0/5.0/10.0	約360×340×230mm	約8.6kg	100~240VAC 50/60Hz	7インチWVGA (タッチパネル式)	Windows CE	光産卵方式 (0.3μm~) 半導体レーザー仕様	USB	Vespel