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FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ-FE-LEEM P90
FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ-株式会社東京インスツルメンツ

FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ
株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

ドイツSPECS社製のFE-LEEM/PEEM P90シリーズは、低エネルギー電子を照射し反射電子像を得るLEEMモードと、光を照射し光電子像を得るPEEMモードを選択可能な電子顕微鏡です。90°ディフレクタを用い、LEEMモードで高空間分解能5nmを実現しました。オプションの球面収差補正機能を追加することで、空間分解能は3nm (標準値、最高到達分解能1.6nm) に向上し、 スループットも従来に比べ8倍アップします。高輝度・低エネルギー分散 FE-電子銃を用いる事で、高いエネルギー分解能測定を実現します。

■特長

・コンパクト、オールインワン設計 ・高分解能 保証値3nm、最高到達分解能1.6nm (LEEM、球面収差補正機能追加モデル) ・高輝度、低エネルギー分散 FE-電子銃 (半値幅300meV) ・球面収差補正機能 (オプション) ・高精度5軸ピエゾ試料ステージ ・高い拡張性

  • シリーズ

    FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ

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FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 空間分解能 観察視野 倍率 エネルギー分解能 Kineticエネルギー 占有面積 スタートエネルギー ベースプレッシャー LEEMスポットサイズ 電子ビームのエネルギー幅 試料ステージの位置再現精度 最高試料加熱温度
FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ-品番-FE-LEEM P90

FE-LEEM P90

要見積もり 保証値5nm (最高分解能4.2nm) 800nm~100μm 400~50,000倍 分光測定 <250meV
イメージング <1.7eV
通常15keV、最小2keV 1.6×2.3m (高さ2.3m) 最大1,000eV 2×10^-10mbar <40μm
最小200nm (マイクロ・ディフラクションのアパーチャー使用時)
<300meV ~500nm 最大1,500K (イメージング時)

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