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FE-低エネルギー電子顕微鏡/光電子顕微鏡 FE-LEEM/PEEM P90シリーズ取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 空間分解能 | 観察視野 | 倍率 | エネルギー分解能 | Kineticエネルギー | 占有面積 | スタートエネルギー | ベースプレッシャー | LEEMスポットサイズ | 電子ビームのエネルギー幅 | 試料ステージの位置再現精度 | 最高試料加熱温度 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
FE-LEEM P90 |
要見積もり |
保証値5nm (最高分解能4.2nm) |
800nm~100μm |
400~50,000倍 |
分光測定 <250meV |
通常15keV、最小2keV |
1.6×2.3m (高さ2.3m) |
最大1,000eV |
2×10^-10mbar |
<40μm |
<300meV |
~500nm |
最大1,500K (イメージング時) |
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