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STEM (走査型透過電子顕微鏡) にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能。 STEM用 CL/PL測定システム Monch-株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

本製品は、走査型透過電子顕微鏡 (STEM) に、集光・光照射の拡張機能を追加するシステムです。集光モードでは電子線が照射源となり、CL測定を実現します。光照射モードではレーザー励起後に電子像を取得します。光照射と集光を同時に行うことも可能で、PL測定を行うことができます。 メンヒ (Monch / Mönch) は、アルプス山脈に属するスイスの山です。ドイツ語で「修道士」を意味します。Attolight社は、製品名に山の名前をつけています。

■特長

・ミラーの曲率半径と位置の最適化により超高感度を実現 ・InGaAsカメラにより近赤外波長の検出 ・検出波長：200 nm 〜 1.7 um

■用途

・GaN、InP、SiCの評価 ・太陽電池セル (GaAs、CdTe、ペロブスカイトなど) ・LED ・2次元材料 (グラフェン、BN、WS2、ダイヤモンドなど)

  • シリーズ

    STEM (走査型透過電子顕微鏡) にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能。 STEM用 CL/PL測定システム Monch

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STEM (走査型透過電子顕微鏡) にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能。 STEM用 CL/PL測定システム Monch 品番1件

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