超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定超高真空ケルビンプローブ (UHVシリーズ) -UHVKP020

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定超高真空ケルビンプローブ (UHVシリーズ)
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この製品について

■概要超高真空 (UHV) 環境に対応したケルビンプローブ (KP) です。既存の真空チャンバーに接続し、仕事関数・表面電位の測定が可能です。専用のUHVケルビンプローブ用チャンバー (セル) も提供可能です。UHV環境だけでなく大気や各種ガスを導入することも出来ます。小型設計のため、短時間で排気やガス導入が可能。理想的な環境下で信頼性の高いデータが得られます。

■特長・UHV環境下で高精度かつ高分解能測定 < 3meV (UHV030) 
・Off-Null (Baikie) 法の採用で高SN測定
・UHV、ガス、大気中での測定
・自動化システムの構築可
・様々な特注対応：チップサイズ/形状、フランジサイズ、サンプルヒーター

■Off-Null (Baikie) 法とはKPの伝統的な手法では、プローブの信号がゼロになるようなバイアス電圧を求め、この電圧から仕事関数を求めます。一方Off-Null (Baikie) 法では、OV近傍の微小な電圧を測定する必要がなく、高価なロックインアンプも不要です。そのため、測定環境やノイズの影響を受けにくく、高いSN比でより素早く正確に仕事関数を測定することが出来ます。

■主な用途・太陽電池材料の評価
・光触媒の研究 など