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電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム-オペランドKP-PYS材料分析システム
電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム-株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

本装置は、"オペランドKP*-PYS**材料分析システム"は、ケルビンプローブと光電子収量分光を組み合わせた"実動作下でエネルギー準位測定を実現する" 世界初の製品です。 *KP：ケルビンプローブ **PYS：光電子収量分光 KP Technology社とグループ会社ユニソクとのコラボ製品です

■特長・用途

・UHV環境下で、フェルミ準位、イオン化ポテンシャル、バンドギャップの測定 ・サンプルの加熱･冷却中、バイアス電圧の印加中など、実動作環境化での測定 ・低エネルギーIPES (LEIPS*) を接続し、高精度LUMO準位の測定も可能 *エイエルエステクノロジー社製 ・有機・無機半導体デバイスの測定 ・KP・PYS測定室、サンプル処理室の間を大気にさらさず搬送

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    電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム

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電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム 品番1件

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