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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si-Exicor PV-Si
シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si-株式会社東京インスツルメンツ

シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
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■概要

複屈折位相差測定装置Exicor® PV-Siは、シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムなどの複屈折分布を波長1,550nmの赤外光で測定します。モデル"500-Si-Ingot"は、シリコンウェーハに切断する前のインゴット (8インチ、500mm長) に対応します。

■特長

・シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 ・インゴットのまま測定 (Squared、As grown ingots)

  • シリーズ

    シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 測定波長 リタデーション繰り返し測定精度 測定スポットサイズ 測定時間 インゴットサイズ
シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si-品番-Exicor PV-Si

Exicor PV-Si

要見積もり

1,550nm

0.1nm

2ミリ径

最大100点/秒

500×150mm (Squared ingot)
500×210mm (As-grown ingot)

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