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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査 赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
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商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 測定波長 | リタデーション繰り返し測定精度 | 測定スポットサイズ | 測定時間 | インゴットサイズ |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Exicor PV-Si |
要見積もり |
1,550nm |
0.1nm |
2ミリ径 |
最大100点/秒 |
500×150mm (Squared ingot) |
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