分光スペクトルと偏光を同時測定分光ポラリメーターPoxi-spectra PX-VIS01-PX-VIS01

分光スペクトルと偏光を同時測定分光ポラリメーターPoxi-spectra PX-VIS01
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この製品について

■高機能な分光偏光測定 -Poxi-spectra-Poxi-spectra™は、波長400～800nm (拡張900nm) の可視域における各波長の偏光状態を測定する偏光測定装置で、分光ポラリメーターや分光エリプソメーターとも呼ばれています。本装置はストークスベクトルと呼ばれる偏光状態を表すパラメーターを測定することで、偏光軸方位、楕円率、偏光度 (DOP) といった偏光を表すパラメーターを測定します。

販売開始以来、液晶テレビ、液晶プロジェクター、偏光光学素子、偏光光学系、結晶、生体試料など様々な偏光解析に広く利用されています。また、紫外～赤外域対応、顕微測定などの特注装置の実績もあります。他にも、サンプルの複屈折やミュラー行列測定、マッピング測定にも対応しています。

■分光偏光測定光学素子透過、反射光の偏光測定はもちろん、ランプ等の光源、光学性全体の特性、蛍光偏光など、様々な偏光を測定します。光学ヘッドを設置するだけで、複雑な装置校正をすることなく、すぐに測定が始められます。

■オプションやカスタマイズストークスポラリメーターで光学素子等を測定する場合、用途に応じた光源や測定ベンチなどが必要になります。例えば、ハロゲンランプ光源を使った透過ベンチと光量を調整するアッテネーター等を提案します。

また、微弱な蛍光などを精度よく測定する場合は、微弱光分光で定評のあるANDOR社の分光検出器に対応しています。微小スポットにおける偏光を測定する場合は、本装置を顕微鏡に搭載可能です。

測定波長範囲は標準で400〜800nmですが、波長範囲を紫外または近赤外側にシフトさせた装置も作製可能です。

■ (高次) 複屈折やミュラー行列測定も可能Poxi-spectra™は、光の偏光解析の他に、分光複屈折測定や分光ミュラー行列測定オプションを用意しています。ミュラー行列測定は、これまで高価なエリプソメーターやポラリメーターに搭載されていましたが、本装置でも自動かつ簡単に測定することができます。

複屈折位相差測定は、リタデーション0nm近傍から半波長まで対応し、同時に進相軸方位も求められます。さらに、多波長測定であることを活かした高次のリタデーションへの解析機能を持っており、数万nm以上の超複屈折サンプルにも対応しています。

型番
この商品には1種類の型番があります

シリーズ
分光スペクトルと偏光を同時測定分光ポラリメーターPoxi-spectra PX-VIS01

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分光スペクトルと偏光を同時測定分光ポラリメーターPoxi-spectra PX-VIS01 品番1件

商品画像	品番	価格 (税抜)	測定波長範囲	波長分解能	測定時間	測定誤差	繰返し精度	測定項目	装置構成	オプション一例
	PX-VIS01	要見積もり	400nm~800nm (UV~NIR可能)	2nm	6秒~1分 (露光時間、積算回数、測定モードによる)	2%以下	<0.005 (3σ、S1~S3)	ストークスパラメーター、楕円率、方位、偏光度	光学ヘッド、コントローラー、PC、Poxiソフトウェア	光ミュラー行列測定複屈折測定 ANDOR社高感度分光検出器