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海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6-IAM-6
海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6-株式会社光洋

海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6
株式会社光洋



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この製品について

正確な測定が不可欠であるCCD・CMOSなどの幾何測定イメージシステムなどのカリブレーション用に設計された精密なラインドット幅とドット直径のステージターゲットです。エレクトロニクスセンサーはピクセル振動によってしばしば見せかけの解像力を示す場合がありますが、このターゲットの明確な寸法のラインやドットをテストに使用することによりこの問題を大幅に抑制します。

  • シリーズ

    海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6

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海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) ラインドット幅 (13段階) 基板サイズ パターン コード
海外各種チャート イメージ解析スケール ライン/ドット スタンダードターゲット IAM-6-品番-IAM-6

IAM-6

要見積もり

2・3・4・5・6・7・8・9・10μ・25μ・50μ・75μ・100μ

25.4×76.2mm

クロム蒸着 (ポジタイプ)

6210

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