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低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5-LVEM5
低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5-入江株式会社

低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5
入江株式会社

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この製品について

■特長

・優れた性能・多機能で圧倒的な低価格。優れたコストパフォーマンス。 ・1.2 nmの画像解像度 (TEMブーストモード使用時。標準TEMモード:2.0nm) ・1台でTEM (電子回析含む) 、SEM、およびSTEMイメージングモードが搭載できる汎用性。サンプルの同じ領域を、TEM、SEM、STEMモードを切り替えるだけで観察が可能。 (各イメージモード搭載時) ・抜群の省スペース設計、卓上タイプなので特別な施設も不要。 ・低電圧 (5KV) の為、生体材料観察時に試料へのダメージ軽減及び、染色無しでの観察、軽元素・軽金属の観察に有効。 ・簡単操作で誰にでも扱える為、専任オペレータは不要。 ・独自設計の永久磁石レンズは冷却が不要 ・イオンゲッターポンプの採用によりクリーンで振動が無く、高真空を実現。

■簡単に切替が出来る多彩なイメージングモード

システム構成に応じて、LVEM5は、透過型電子顕微鏡 (TEM) 、走査型電子顕微鏡 (SEM) 、走査型透過電子顕微鏡 (STEM) として動作します。 試料の同じ領域を複数のイメージングモードを切替えて実行出来る為、表面画像と透過画像の両方をキャプチャする事が可能です。 また、カラムを再調整したり試料を調整をすることなく、電子回折 (ED) データを取得可能です。 ※BASIC TEMモードに必要なオプションモードを追加する事でワンクリックでモードを切替え使用が出来ます。

■BASIC TEMモード

TEMモードのデジタルイメージングは、LVEM5の頂上に取り付けたペルチェ冷却型CCDデジタルカメラによって形成されます。標準TEMモードでは、画像キャプチャはQImaging社Retiga4000Rで行われます。それは、2,048×2,048画素のプログレッシブスキャンインターラインCCDを搭載した高感度デジタルカメラです。画像キャプチャソフトウェアは、高性能画像データの取得、文書化、および解析のために設計されています。平均化やライブFFTおよび自動コントラスト調整などの各種画像処理手順が利用可能です。

■SEMモード

後方散乱電子検出器は、走査電子顕微鏡検査と透過型電子顕微鏡を並列に実行可能にするように設計され、電子光学カラムに直接組み込まれています。

  • シリーズ

    低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5

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低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5 品番1件

商品画像 品番 価格 (税抜) 公称加速電圧 試料サイズ 試料移動 チルトホルダー 試料交換時間 投影レンズ 解像力 総合倍率 イメージキャプチャ ダイヤフラムとターボ分子ポンプ オブジェクトスペース イオンゲッターポンプ 電子銃 イオンゲッターポンプ スタンバイ時 操作時 操作時 (最大) 電圧/周波数 寸法 (幅×奥行×高さ) エアロックポンプシステム 重さ エアロックポンプシステム 寸法 (幅×奥行×高さ) 電子ユニット 重さ 電子ユニット 寸法 (幅×奥行×高さ) 最小プローブサイズ カメラ長 (ビニング1x1) カメラ定数 (ビニング1x1) 最大倍率 最大視野 キャプチャーサイズ
低電圧透過型電子顕微鏡 (卓上TEM) LVEM5-品番-LVEM5

LVEM5

要見積もり

5kV

標準ф3.05mm TEMグリッド

x, y: ± 1 mm、z: ± 0.3 mm

±22°

約3分

静電単レンズ

2.0nm

2,200-230,000×

CCD 2,048×2,048ピクセル 12ビット

10-5mbar

10-7 mbar

10-9 mbar

40 VA

300 VA

810 VA

100–240 V / 50–60Hz

296 × 440 × 690 mm

17kg

300 × 300 × 355 mm

19kg

470 × 270 × 290 mm

100nm

CCD:2,100ピクセル sCMOS:2,390ピクセル

CCD:36.3nmピクセル sCMOS:41.3nmピクセル

250,000×

25×25μm

最大2,048×2,048ピクセル 8ビット

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

入江株式会社は、東京都中央区に本社を置く、製造機械、製造消耗品、測定・検査機器などを販売する、科学技術専門の商社である。 基礎研究分野、大学、半導体エネルギー・液晶産業、二次電池・太陽電池などの新エネルギー、医療・医薬品...

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  • 本社所在地: 東京都
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