自動 接触角計 SImage AUTO 300/300wafer
株式会社エキシマ
この製品について
■対象サンプルサイズφ300mm
JIS R 3257 基板ガラス表面の濡れ性試験方法 準拠 接触角計とは試料表面へ水滴を滴下し、水の接触角を測定することにより試料表面評価を定量的に行うシステムです。自動 接触角計測は、分子レベルの清浄度評価や濡れ性、均一性を定量的に評価します。同時に作業者によるバラつき問題も改善いたします。Excelのcsv file出力、液滴画像のpng file保存が行えます。Windows PC本体は含まれておりません。 ISO書類対応 (オプション) 校正証明書、試験成績書、トレサビリィティ体系図 高解像度メガピクセルズームレンズ採用■特長
・JIS R3257 ｢基板ガラス表面の濡れ性試験方法｣準拠接触角計 ・ISO書類対応 (オプション) 校正証明書、試験成績書、トレサビリィティ体系図 ・世界的なNIST基準に基づく接触角計 ・Windows11、10対応 ・静的、動的接触角計測 L、R、LR平均表示 ・約15fps経時変化計測 ・トレンドグラフ表示 ・接触角演算方法接線法 (自動) 、θ/2法 (手動) ・データの外部出力や保存 (png,csv) ・拡張収縮接触角測定対応 ・ISO書類対応 (オプション) 校正証明書、試験成績書、トレサビリィティ体系図 ・Z軸シリンジ高さ調整ディスペンサ ・専用バックライト ・日本製■SImage Auto 300 wafer
半導体300mmウェハー対応自動接触角計 ステージ治具にはPEEKを採用。小径ウェハーにも対応。オートディスペンサーモデル追加対応 (オプション)-
シリーズ
自動 接触角計 SImage AUTO 300/300wafer
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取扱企業
株式会社エキシマ
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カテゴリ
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自動 接触角計 SImage AUTO 300/300wafer 品番1件
| 商品画像 | 品番 | 価格 (税抜) | 対象サンプルサイズ | 測定範囲 | 角度分解能 | 接触角解析公式 | 工業規格 | ISO書類 (オプション) | 稼働域 | カメラ光学系 | 対応OS | 経時変化計測 | ステージワークホルダー | 標準ディスペンサー | 外形寸法/重量 | 電源 | 付属品 | Options |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
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Simage AUTO 300 |
要見積もり | Maxφ300mm | 0＜θ＜ 180° | 0.1° | 接線法 (Auto mode) 、θ/2 法 (Manual mode) 、拡張収縮法 | JISR3257、ASTM D724,D5725,D5946、ISO 15989 | 校正証明書、検査成績書、トレーサビリティ体系図 | Z ステージ | 500万画素カメラ、メガピクセルズームレンズ | Windows 11,10 | 約15fps ※PC性能に依存 | 無 | 2.5-10μL micrometer head control | W 500 x H 290 x D120 mm/約3kg | AC100V50/60Hz 2W | 接触角解析ソフト、USBドングル、取扱説明書、検査成績書 | オートディスペンサー、シリンジ針各種、表面自由エネルギー解析ソフト 等 |
のついている項目名や値は、Metoreeの自然言語処理アルゴリズムを用いて自動生成された値です。各メーカーの製品を横断して比較しやすくするための参考としてご利用ください。自動生成データは黒色の文字、元データは灰色の文字です。
