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X線回折装置 (XRD) Empyreanシリーズ Empyrean Nanoエディション-スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部

スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル 事業部の対応状況

返答率

100.0%

返答時間

41.3時間

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ゴニオメータ タイプ

垂直2サークルゴニオメータ; θ-θ配置

ゴニオメータ 半径

240mm

ゴニオメータ 分解能

0.0001°

ゴニオメータ インターフェース

PreFIXタイプ、事前調節された光学系、ステージ、及び検出器の迅速交換が可能

SAXS/WAXSの仕様 カメラ長

480mm

SAXS/WAXSの仕様 X線源

密封高解像度X線管 (Cuアノード)

SAXS/WAXSの仕様 コリメーションタイプ

ラインコリメーション (標準) ポイントコリメーションに変更可能

SAXS/WAXSの仕様 入射ビーム光学系

1D X線集束ミラー

SAXS/WAXSの仕様 ビーム経路

ScatterX78、真空 (< 0.1 mbar) ; サンプルカプセルを含む

SAXS/WAXSの仕様 サンプルホルダ

液体、固体、粉末

SAXS/WAXSの仕様 温調範囲

温度制御キャピラリホルダ (5~70°C) ディスポーサブルの低バックグラウンドキャピラリを使用

SAXS/WAXSの仕様 ビームストップ

ラインとポイントコリメーション用のビームストップ - 簡単に切り替え可能; 半透明

SAXS/WAXSの仕様 検出器

低ノイズ、ハイブリッドピクセル領域検出器: GaliPIX3D: CdTeセンサ; 解像度60 µmまたは PIXcel3D: Siセンサ; 解像度55 µm

SAXS/WAXSの仕様 測定モード

静的またはスキャン検出器 (1Dまたは2Dフルパターン)

SAXS/WAXSの仕様 アクセス可能な2θレンジ

0.08~78°

SAXS/WAXSの仕様 アクセス可能なqレンジ

0.006~5.14 Å-1

SAXS/WAXSの仕様 最大ブラッグ結晶面間隔

100 nm

SAXS/WAXSの仕様 ソフトウェア

Data Collector、EasySAXS、XRD2Dscan、HighScore (Plus)

USAXSの仕様 X線源

密封高解像度X線管 (Cuアノード)

USAXSの仕様 コリメーションタイプ

ラインコリメーション

USAXSの仕様 入射ビーム光学系

4結晶Ge (220) 単色光分光器

USAXSの仕様 受光光学系

3バウンスGe (220) アナライザー結晶

USAXSの仕様 サンプルステージ/ホルダ

液体、固体、粉末

USAXSの仕様 サンプルチェンジャ

固体および粉末用オプション

USAXSの仕様 検出器

比例計数管、PIXcel3DまたはPIXcel1D

USAXSの仕様 測定モード

ステップスキャン (0D)

USAXSの仕様 最小2θ

0.0050°

この製品について

多目的X線散乱プラットフォーム Empyrean Nanoエディションはハイブリッド実験室用X線散乱装置です。 複数の長さスケールで (ナノ) 材料の構造特性評価を行うさまざまな技術を使用できるのが特長です。

■主な用途

・SAXSとWAXS: 小角と広角X線散乱 ・Bio-SAXS: 生体高分子に対するSAXS ・USAXS: 超小角X線散乱法 ・全散乱: 原子二体分布関数 (PDF) 解析 粉末回折、薄膜分析、CTなど、その他のアプリケーションをいくつか追加することができ、後でアップグレードすることもできます。 高分解能ゴニオメータプラットフォーム、モジュール概念、最新の検出器技術により、装置の高い性能と柔軟性が実現されています。

■概要

複数の長さスケールでの (ナノ) 物質解析 市販されている他の研究用装置と同様に、Empyrean Nanoエディションは、サブオングストロームからミクロンまでのブラッグ結晶面間隔と、散乱ベクトルqレンジの提供を約50年にわたって一貫して行っています。 Empyrean NanoエディションでUSAXSとSAXS/WAXSとPDF測定を独自に組み合わせると、複数の長さスケールで階層構造の特性評価が可能になり、サブオングストロームからミクロンまでのブラッグ結晶面間隔をカバーします。 

■動作

Empyreanでは、さまざまなX線散乱技術をサポートしています。 ・SAXS 小角X線散乱法  SAXSはEmpyrean Nanoエディションのメインアプリケーションです。 これは最も多目的なツールの1つで、さまざまなサンプルタイプ (液体、粉末、固体、ゲルなど) のナノスケール構造と大きさを分析します。 サンプルは非晶質、結晶質、または半結晶質でもかまいません。 SAXSで調査できる典型的なサンプルには、コロイド分散液、界面活性剤、ポリマー、生体高分子、膜、ナノコンポジット、ナノ粉末、多孔質材などが含まれます。 異方性ナノスケール構造の配向は、2D SAXSパターンを測定することによって調査できます。 

  • 型番

    Empyrean Nanoエディション

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X線回折装置 (XRD) Empyreanシリーズ Empyrean Nanoエディション Empyrean Nanoエディションの性能表

商品画像 価格 (税抜) ゴニオメータ タイプ ゴニオメータ 半径 ゴニオメータ 分解能 ゴニオメータ インターフェース SAXS/WAXSの仕様 カメラ長 SAXS/WAXSの仕様 X線源 SAXS/WAXSの仕様 コリメーションタイプ SAXS/WAXSの仕様 入射ビーム光学系 SAXS/WAXSの仕様 ビーム経路 SAXS/WAXSの仕様 サンプルホルダ SAXS/WAXSの仕様 温調範囲 SAXS/WAXSの仕様 ビームストップ SAXS/WAXSの仕様 検出器 SAXS/WAXSの仕様 測定モード SAXS/WAXSの仕様 アクセス可能な2θレンジ SAXS/WAXSの仕様 アクセス可能なqレンジ SAXS/WAXSの仕様 最大ブラッグ結晶面間隔 SAXS/WAXSの仕様 ソフトウェア USAXSの仕様 X線源 USAXSの仕様 コリメーションタイプ USAXSの仕様 入射ビーム光学系 USAXSの仕様 受光光学系 USAXSの仕様 サンプルステージ/ホルダ USAXSの仕様 サンプルチェンジャ USAXSの仕様 検出器 USAXSの仕様 測定モード USAXSの仕様 最小2θ
X線回折装置 (XRD) Empyreanシリーズ Empyrean Nanoエディション-品番-Empyrean Nanoエディション 要見積もり 垂直2サークルゴニオメータ; θ-θ配置 240mm 0.0001° PreFIXタイプ、事前調節された光学系、ステージ、及び検出器の迅速交換が可能 480mm 密封高解像度X線管 (Cuアノード) ラインコリメーション (標準)
ポイントコリメーションに変更可能
1D X線集束ミラー ScatterX78、真空 (< 0.1 mbar) ; サンプルカプセルを含む 液体、固体、粉末 温度制御キャピラリホルダ (5~70°C)
ディスポーサブルの低バックグラウンドキャピラリを使用
ラインとポイントコリメーション用のビームストップ - 簡単に切り替え可能; 半透明 低ノイズ、ハイブリッドピクセル領域検出器:
GaliPIX3D: CdTeセンサ; 解像度60 µmまたは
PIXcel3D: Siセンサ; 解像度55 µm
静的またはスキャン検出器 (1Dまたは2Dフルパターン) 0.08~78° 0.006~5.14 Å-1 100 nm Data Collector、EasySAXS、XRD2Dscan、HighScore (Plus) 密封高解像度X線管 (Cuアノード) ラインコリメーション 4結晶Ge (220) 単色光分光器 3バウンスGe (220) アナライザー結晶 液体、固体、粉末 固体および粉末用オプション 比例計数管、PIXcel3DまたはPIXcel1D ステップスキャン (0D) 0.0050°

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X線回折装置をフィルターから探すことができます

測定角度範囲 2θ

0 - 75 75 - 150 150 - 170

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この商品の取り扱い会社情報

会社概要

1948年設立、X線回折装置や蛍光X線装置などを製造、販売するパナリティカル社(オランダ)と1967設立、粒子計測装置などを製造・販売するマルバーン社(イギリス)という長い歴史を持つ2つのメーカーが1つになり、誕生したの...

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  • 本社所在地: 兵庫県

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