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光源
MIRRORCLE-CV1
X線エネルギー
10~100keV
光学系
平行光学系
検出器
Ge半導体検出器
試料形状
任意
X線ビーム径
500μm以下 (測定条件による)
測定領域
1cm以下 (測定条件による)
最大測定可能深さ
鉄で1mm以下 (測定条件による)
深さ分解能
1μm以上 (測定条件による)
型番
残留応力測定シリーズ
残留応力測定取扱企業
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 光源 | X線エネルギー | 光学系 | 検出器 | 試料形状 | X線ビーム径 | 測定領域 | 最大測定可能深さ | 深さ分解能 |
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要見積もり | MIRRORCLE-CV1 | 10~100keV | 平行光学系 | Ge半導体検出器 | 任意 | 500μm以下 (測定条件による) | 1cm以下 (測定条件による) | 鉄で1mm以下 (測定条件による) | 1μm以上 (測定条件による) |
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使用用途が応力解析の製品
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