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JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zetaガスクロマトグラフ四重極質量分析計-日本電子株式会社

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この製品について

◾️「Zeta ゼータ」 第6世代のハイエンドGC-QMSついに登場 日本電子の新世代ガスクロマトグラフ四重極質量分析計 (GC-QMS) システムJMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zetaは、長年培ってきたQMS技術を結集させた第6世代のハイエンドGC-QMSです。環境、水質、農薬分析といった定量分析から、材料、におい分析といった定性分析まで幅広い測定・分析ニーズに対応した究極の高性能・汎用型GC-MSです。 ◾️特長 ・高い感度と圧倒的なダイナミックレンジを実現 装置検出限界: IDL<5 fg OFN 20 fgをSIMモードで連続8回測定し、得られた抽出イオンクロマトグラムの面積値とその再現性より装置検出下限を算出したところ、2.6 fgを達成しました。 ・広いクロマトグラムダイナミックレンジ OFN 0.005 ~ 1,000 pgを標準EIイオン源のSIMモードで測定したところ、検量線の決定係数は0.999以上を示す良好な直線性が得られました。5桁以上を有する広いダイナミックレンジは定量分析のみならず、濃度差のある混合試料の定性分析においても有効です。 ◾️自動SIM条件作成機能 ・Peak Dependent SIMで簡単・高感度な定量分析 今まで煩わしかったSIMグルーピング作業を行う必要はもうありません。自動SIM条件作成機能Peak Dependent SIMは最適なSIMグルーピングを自動で設定します。誰でも簡単に最適化したSIM条件で測定を行うことができます。SIM測定における1グループあたりのチャンネル数は100、グループ数は500まで設定可能です。 ◾️ ソリューションを拡げるユニークなイオン源 高性能EIイオン源: Enhanced Performance Ion Source (EPIS) (オプション) 、装置検出限界: IDL<1 fg EPISではイオン源チャンバーを改良することで高感度化を達成しました。EPISにおける装置検出限界はIDL<1 fg (OFN 5 fg 注入、8回測定) です。業界最高レベルの感度は、微量成分分析、濃縮作業の簡略化、試料導入量の低減 (汚染低減) といった様々なメリットを生み出します。定量分析のみならず定性分析にも活用いただけるオプションEIイオン源です。

  • 型番

    JMS-Q1600GC

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JMS-Q1600GC UltraQuad™ SQ-Zetaガスクロマトグラフ四重極質量分析計 JMS-Q1600GCの性能表

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使用用途

#成分分析 #品質管理 #環境測定 #食品検査 #医薬分析 #石油化学 #ニオイ評価 #ガス純度確認 #法規制対応 #研究開発

カラム恒温槽温度範囲 ℃

10 - 300 300 - 400 400 - 450

電源 V

10 - 100 100 - 300

質量 kg

0 - 10 10 - 20 20 - 70

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この商品の取り扱い会社情報

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会社概要

日本電子株式会社は、1949年5月に電子顕微鏡を製造する会社として創業以来、電子顕微鏡などのナノテク分野で世界トップレベルの計測機器を開発しています。 本社は東京都昭島市にあり、企業の研究部門から産業機器分野まで、多く...

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  • 本社所在地: 東京都

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