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電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム-株式会社東京インスツルメンツ

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この製品について

■概要

本装置は、"オペランドKP*-PYS**材料分析システム"は、ケルビンプローブと光電子収量分光を組み合わせた"実動作下でエネルギー準位測定を実現する" 世界初の製品です。 *KP:ケルビンプローブ **PYS:光電子収量分光 KP Technology社とグループ会社ユニソクとのコラボ製品です

■特長・用途

・UHV環境下で、フェルミ準位、イオン化ポテンシャル、バンドギャップの測定 ・サンプルの加熱・冷却中、バイアス電圧の印加中など、実動作環境化での測定 ・低エネルギーIPES (LEIPS*) を接続し、高精度LUMO準位の測定も可能 *エイエルエステクノロジー社製 ・有機・無機半導体デバイスの測定 ・KP・PYS測定室、サンプル処理室の間を大気にさらさず搬送

  • 型番

    オペランドKP-PYS材料分析システム

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2025年7月9日にレビュー済み

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電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム オペランドKP-PYS材料分析システムの性能表

商品画像 価格 (税抜)
電子デバイス材料のオペランド解析に革新的ツールが登場 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 オペランドKP-PYS材料分析システム-品番-オペランドKP-PYS材料分析システム 要見積もり

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使用用途

#材料分析 #金属分析 #品質管理 #研究開発 #環境分析 #プロセス管理 #食品医薬品 #バイオ分析 #表面界面分析 #電子デバイス #燃焼プラズマ #鑑識分析

測定方式

分光法 フーリエ変換 高分解能 低分解能

機能

単一波長測定 多波長測定 ラマン分光 赤外線分光

構造

ディスプレイ型 手持ち型 卓上型

波長範囲 nm

100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,500

分解能 nm

0 - 1 1 - 10 10 - 20

重量 kg

0 - 10 10 - 50 50 - 100 100 - 200 200 - 400 400 - 700

測定時間 秒

0 - 1 1 - 10 10 - 100 100 - 200

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