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測定波長
1,550nm
リタデーション繰り返し測定精度
0.1nm
測定スポットサイズ
2ミリ径
測定時間
最大100点/秒
インゴットサイズ
500×150mm (Squared ingot) 500×210mm (As-grown ingot)
型番
Exicor PV-Si取扱企業
株式会社東京インスツルメンツカテゴリ
レビューは全てメトリー経由で実際に見積もりをしたユーザーによるものです
5.0
評判がとても良い
2025年7月9日にレビュー
迅速なご返信、別商品のご提案までスムーズに対応いただきました。
初回返答までの時間・36.22時間| 商品画像 | 価格 (税抜) | 測定波長 | リタデーション繰り返し測定精度 | 測定スポットサイズ | 測定時間 | インゴットサイズ |
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要見積もり | 1,550nm | 0.1nm | 2ミリ径 | 最大100点/秒 |
500×150mm (Squared ingot) 500×210mm (As-grown ingot) |
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使用用途が材料分析の製品
赤外顕微鏡をフィルターから探すことができます
返答率
100.0%
返答時間
30.5時間
企業レビュー
5.0
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