SX-1100 | X線厚さ計 SX-1100
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測定方法

X線透過方式

検出方法

シンチレーション検出器方式

測定対象物

フィルム・箔など測定対象に合わせ最適設計)

測定ピッチ

標準 2mm (さらに細かいピッチも対応可能)

スキャン幅

標準150~3000mm (他の幅も対応可能)

スキャン速度

15~300mm/sec (標準)

フレーム構造

Ｏ型他各種フレーム

スポットサイズ

約φ7.5mm (標準) (ワーク上)

X線源部

70×83mm×250mm (標準)

検出部

70×83mm×220mm (標準)

電源

100V 単相 1kVA

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この製品について

■概要軟Ｘ線 (軟エックス線) を利用した厚さ計 (膜厚計) です。 シート・板状の物体の厚さ・密度 (坪量) を非接触 (軟X線) で測定します。直接厚みを測るのではなく、基準物質との比較によって、厚さ・密度 (坪量) を算出します。

一般に、シートの幅方向の厚み分布を測定するのに、スキャナで検出系を搬送して測定します。非接触で厚さを計測する手段としてはレーザー変位計が一般的ですが、レーザー変位計をスキャナに搭載すると、搬送時にレーザー変位計の精度を遙かに下回る精度でしか搬送できないので、結果的に高精度の測定は困難です。

一方、X線厚さ計のように透過減衰によって厚さを見積もる方式では、空気層－サンプル－空気層と透過する間の減衰を測定するのですが、サンプルによる減衰が空気より遙かに大きく、搬送の影響は空気層の厚み変化として現れるのみで、影響は軽微です。従って高精度で測定することができるのです。

■特徴・放射線取扱主任者・X線作業主任者の選任・管理区域の設定が不要 (労働基準監督署への届出は必要です) 
・パスライン誤差が無視できます
・元素依存性が大きい
・検出部、Ｘ線源部がコンパクト・軽量で狭いラインにも設置可能
・計測対象範囲 (材質・厚さ) が広い

■用途銅箔、アルミ箔、ステンレス箔、電池電極、セラミックス (シート、ウェハ) 、ガラス繊維クロスなどの連続計測。

型番
SX-1100

シリーズ
X線厚さ計 SX-1100

取扱企業
新日本通商株式会社

カテゴリ

メーター・計測機器

厚み測定器

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X線厚さ計 SX-1100 SX-1100の性能表

商品画像	価格 (税抜)	測定方法	検出方法	測定対象物	測定ピッチ	スキャン幅	スキャン速度	フレーム構造	スポットサイズ	X線源部	検出部	電源
	要見積もり	X線透過方式	シンチレーション検出器方式	フィルム・箔など測定対象に合わせ最適設計)	標準 2mm (さらに細かいピッチも対応可能)	標準150~3000mm (他の幅も対応可能)	15~300mm/sec (標準)	Ｏ型他各種フレーム	約φ7.5mm (標準) (ワーク上)	70×83mm×250mm (標準)	70×83mm×220mm (標準)	100V 単相 1kVA