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返答率
100.0%
返答時間
32.8時間
Z分解能/測定範囲
0.75nm/±6mm
Z検出方式
半導体レーザスケール
触針
R2μm 0.7mN
解析項目
形状解析 (要素、スカラ量、統計量、マスタ比較、公差判定) 表面粗さ (JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面うねり (JIS)
型番
DSF-L800取扱企業
株式会社小坂研究所カテゴリ
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輪郭形状測定機の製品45点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | Z分解能/測定範囲 | Z検出方式 | 触針 | 解析項目 |
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要見積もり | 0.75nm/±6mm | 半導体レーザスケール | R2μm 0.7mN |
形状解析 (要素、スカラ量、統計量、マスタ比較、公差判定) 表面粗さ (JIS、ISO、DIN、ANSI、BS) 表面うねり (JIS) |
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使用用途
#自動測定 #品質保証 #粗さ組み合わせ測定 #高度な解析 #プロセス信頼性 #ワーク処理 #粗い表面判断 #ジオメトリ測定測定範囲 mm
1 - 10 10 - 20 20 - 30 30 - 40 40 - 50 50 - 100トラバース長 mm
0 - 100 100 - 150 150 - 200 200 - 250 250 - 300プローブアームの長さ mm
100 - 200 200 - 300 300 - 400 400 - 500ガイド偏差 µm / mm
0.01 - 0.03 0.03 - 0.05 0.05 - 0.07測定力 mN
0 - 1 1 - 10 10 - 30測定原則
白光干渉計 クロマティック - 共焦点 垂直走査低コヒーレンス干渉法 ポイントオートフォーカス法
