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表面曲率再現性 (PV)
≦100nm
光学測定システムの分解能
0.1 arcsec
光学測定システムの精度
1 arcsec
測定速度
10mm~30mm /秒
測定フィールド
標準 ø200mm* (より大きなフィールドも可能です)
サンプル厚さ
制限なし
スキャン長に対する最小曲率半径および最大測定高さ
200mm R =18m, 290μm、300mm R =25m, 435μm、500mm R =43m, 725μm
自由作動距離
制限なし
測定波長
標準 670nm
自動測定シーケンス
可能
型番
FLATSCAN取扱企業
入江株式会社カテゴリ
Metoree経由で見積もり
2024年12月13日にレビュー済み
顧客対応への満足度
当日返信、翌日に概算の見積もりをいただきました。
初回対応までの時間への満足度
13.76時間
Metoree経由で見積もり
2024年5月20日にレビュー済み
顧客対応への満足度
全体的に対応が迅速で、非常に好印象でした。
初回対応までの時間への満足度
0.65時間
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光学測定器の製品241点中、注目ランキング上位6点
電話番号不要
何社からも電話が来る心配はありません
一括見積もり
複数社に同じ内容の記入は不要です
返答率96%
96%以上の方が返答を受け取っています
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返答率96%
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | 表面曲率再現性 (PV) | 光学測定システムの分解能 | 光学測定システムの精度 | 測定速度 | 測定フィールド | サンプル厚さ | スキャン長に対する最小曲率半径および最大測定高さ | 自由作動距離 | 測定波長 | 自動測定シーケンス |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 要見積もり | ≦100nm | 0.1 arcsec | 1 arcsec | 10mm~30mm /秒 | 標準 ø200mm* (より大きなフィールドも可能です) | 制限なし | 200mm R =18m, 290μm、300mm R =25m, 435μm、500mm R =43m, 725μm | 制限なし | 標準 670nm | 可能 |
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使用用途
#表面検査 #厚み測定 #位置計測 #形状測定 #反射評価 #透過評価 #分光分析 #アライメント調整波長範囲 nm
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50 - 200 200 - 1,000 1,000 - 10,000
