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返答率
100.0%
返答時間
14.7時間
メーカー
大塚電子
波長範囲
230~800 nm
膜厚範囲
1 nm~35 μm ※SiO2換算となります
サンプルサイズ
最大200×200×17 mm
スポット径
φ5、φ10、φ20、φ40
型番
OPTM-A1シリーズ
顕微分光膜厚計 OPTM series取扱企業
大木理工機材株式会社カテゴリ
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膜厚計の製品167点中、注目ランキング上位6点
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| 商品画像 | 価格 (税抜) | メーカー | 波長範囲 | 膜厚範囲 | サンプルサイズ | スポット径 |
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要見積もり | 大塚電子 | 230~800 nm |
1 nm~35 μm ※SiO2換算となります |
最大200×200×17 mm | φ5、φ10、φ20、φ40 |
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使用用途がフィルム評価の製品
膜厚計をフィルターから探すことができます
使用用途
#塗装検査 #めっき管理 #コーティング管理 #フィルム評価 #半導体検査 #電子部品検査 #自動車部品検査 #建材検査 #印刷品質管理 #材料研究 #表面処理管理測定範囲 μm
0 - 10 10 - 100 100 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 5,000 5,000 - 10,000 10,000 - 10,000,000測定方式
電磁誘導式/渦電流式 電磁式 渦電流式 光熱放射法 超音波式 静磁気式 4探針電気抵抗式 電解式 蛍光X線 微小面積電解式 パルス反射式測定精度 μm
0 - 5 5 - 10 10 - 20 20 - 60 60 - 100 100 - 250分解能 μm
0 - 1 1 - 100データメモリ数 点
1,000 - 10,000 10,000 - 40,000 40,000 - 260,000 260,000 - 2,000,000質量 g
0 - 500 500 - 1,000 1,000 - 2,000 2,000 - 10,000 10,000 - 90,000
