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波長範囲0.8~30nm用の光源。アノードターゲットの交換により広い波長域をカバー 軟X線光源-株式会社東京インスツルメンツ

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返答率

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返答時間

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波長範囲

1nm~30nm

アノード種類

Mg L/M: 25.1nm (49.3eV) Al L/M: 17.1nm (72.4eV) Si L/M: 13.5nm (91.5eV) Be K: 11.4nm (108.5eV)

コントローラー

付属

フランジ

ICF70

この製品について

■製品概要

波長帯8Å~300Åの軽量・コンパクト (全長260mm,重量1.1kg) な軟X線光源です。10kVと低電圧のため取扱いが非常に容易で、EUV基礎実験・研究用に最適。X線分光器248/310型と組合わせて可変波長軟X線光源が構成できます。

■特長

・8Å~300Åの軟X線出力 (642型軟X線光源) ・全長260mm、重量1.1kgの軽量・コンパクト ・低い電圧 (10kV) で取扱い容易 ・EUV基礎実験に最適 ・ICFフランジ取付け可能 ・発光スポット1mm径 ・リフェランス用 Yチャンバーオプション ・システムアップ、特注対応可能

  • 型番

    642型

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波長範囲0.8~30nm用の光源。アノードターゲットの交換により広い波長域をカバー 軟X線光源 642型の性能表

商品画像 価格 (税抜) 波長範囲 アノード種類 コントローラー フランジ
波長範囲0.8~30nm用の光源。アノードターゲットの交換により広い波長域をカバー 軟X線光源-品番-642型 要見積もり 1nm~30nm Mg L/M: 25.1nm (49.3eV) Al L/M: 17.1nm (72.4eV) Si L/M: 13.5nm (91.5eV) Be K: 11.4nm (108.5eV) 付属 ICF70

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使用用途

#セキュリティ検査 #医療診断 #建築検査 #研究実験 #工業非破壊検査 #材料分析 #歯科診断 #獣医診断 #食品検査 #製造品質管理 #半導体検査

最大出力 W

0 - 200 200 - 300 300 - 400

管電圧 kV

10 - 20 20 - 100 100 - 200 200 - 300

焦点サイズ mm

0 - 1 1 - 2 2 - 5

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  • 本社所在地: 東京都

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