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FPD各種部材 走査幅全域においてビーム形状が同じで高精度な描画が可能 テレセンfθ レーザ直描装置-株式会社ワイ・ドライブ

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レーザスポット径 (@レーザ波長405nm)

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レーザ波長

375,405,650,780,830nm (半導体レーザ) 355,488,532nm (固体レーザ)

データフォーマット

ビットマップ (BMP)

フォーカスユニット (マニュアル操作)

Zステージ

フォーカス確認ユニット

CCDカメラ光学ユニット,モニター:露光面のフォーカス状態を見ながらZステージでピント合わせ

繰り返し露光機能

ステージ送り方向にJobを任意回数露光する機能

基準穴位置調整機能

基準穴確認光学系,モニタ,X軸θ軸ステージ;基準ピンやマークからの露光位置合わせ機構

エアーチャックテーブル

セラミックステーブル or アルミテーブル

本体外寸

400×500×460mm

この製品について

テレセントリックfθ レンズによるレーザ露光のため、走査幅全域においてビーム形状が同じで高精度な描画が可能。直描装置本体部をコンパクトなサイズに納めましたので、省スペースで多品種小ロットの高精細露光に最適です。

  • 型番

    LSU-1002

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FPD各種部材 走査幅全域においてビーム形状が同じで高精度な描画が可能 テレセンfθ レーザ直描装置 LSU-1002の性能表

商品画像 価格 (税抜) レーザ波長 レーザスポット径 (@レーザ波長405nm) レーザ走査幅 データ分解能 データフォーマット フォーカスユニット (マニュアル操作) フォーカス確認ユニット 繰り返し露光機能 基準穴位置調整機能 エアーチャックテーブル
FPD各種部材 走査幅全域においてビーム形状が同じで高精度な描画が可能 テレセンfθ レーザ直描装置-品番-LSU-1002 要見積もり 375,405,650,780,830nm (半導体レーザ)
355,488,532nm (固体レーザ)
2μm 10mm ~25,400dpi ビットマップ (BMP) Zステージ CCDカメラ光学ユニット,モニター:露光面のフォーカス状態を見ながらZステージでピント合わせ ステージ送り方向にJobを任意回数露光する機能 基準穴確認光学系,モニタ,X軸θ軸ステージ;基準ピンやマークからの露光位置合わせ機構 セラミックステーブル or アルミテーブル

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この商品の取り扱い会社情報

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94.6時間

  • 本社所在地: 大阪府

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