リガクのX線検査装置

ピクセルサイズ127μm、防塵、防水を兼ね備え、オールインパッケージ ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追...

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■薄膜評価用蛍光X線分析装置 半導体材料として重要なB、C、N、Oを含む、Be～Uまでの全元素を1台でカバー ■波長分散型蛍光X線分析 (WDX)...

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単結晶X線回折データ収集・処理・構造解析までの統合ソフトウェア ■統合プラットフォーム CrysAlisProは、無機結晶や有機結晶はもとよ...

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■圧倒的に早い撮影時間 フィルムに比べ撮影時間が短縮され、ハイスループットの検査に最適です。撮影数秒後で画像表示することが可能で...

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■EIGER2Rseries EIGER2R検出器には、CdTeまたはSiセンサーが付属しています。高圧や電荷密度の研究など、高エネルギー (Agなど) 放射線...

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ピクセルサイズ76μmの高分解能DDAがより鮮明な画像を提供します。 ■「ガス工作物技術基準の解釈例」にデジタルラジオグラフィーの追加 ...

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ウェーハの主面の切断角度、OF・ノッチ位置を自動で測定する装置です。 ■特長 ・真空チャック方式で試料を保持します。0°,90°,180°,270...

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■単結晶材料の切り出し方位を、ワイヤソーその他の切断機に正確に伝えます Si、Ge、GaAs、SiC、水晶、LN、LT、サファイヤ、ルチル、蛍石...

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■高い検査精度が求められる自動車・航空機部品検査等、幅広い用途に適合 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜRRNDT社の...

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■ハイブリッドXRFおよび光計測FABツール 300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能なエネルギ...

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■非破壊ウェーハ検査と計測 ・デュアルX線源 (ポリキャピラリー/モノクロマチック) ・300mmウェーハまで対応 ■概要 ONYX3200は、市場...

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PhotonJetMAX-SはXtaLABSynergy-Sに搭載可能な最新のマイクロフォーカス封入管X線源です。管球からのX線光子を集光する光学系技術の向上...

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■最新のインバーター技術と独自の高電圧技術により、「小型・軽量化」「高い透過能力」および「省エネ」を実現 RF-1310CPは低エネルギー...

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■現場での撮影に、優れた操作性と堅牢性 現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリー...

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■軽量・小型で高所/狭所の検査に最適 RadioflexRF-200SPSは、建物のメンテナンス、狭い場所や高い場所にあるコンクリートや配筋/配管の...

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現場での撮影作業には、優れた操作性と堅牢性が求められます。これを実現したのがRF-EGM2シリーズです。X線発生器は、納入実績に裏付け...

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズの標準機です。L型...

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■靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズ 靴、アパレル、雑貨、バッグの異物検査装置RVシリーズに2方向2画面同時検査装置...

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■2方向同時照射2画面表示機能 ラインセンサーを2つ搭載し、1回の検査で0°と25°の撮影画像が取得できます。また、2画面個別に明るさやコ...

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■軽量でありながら堅牢な屋外使用に適したイメージングプレートスキャナー (CR) 世界基準を満たし、圧倒的な販売実績を誇る、ドイツDÜR...

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■最大200mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-200は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツール...

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■300mmウェーハのフルマッピング用X線回折 (XRD) システム TFXRD-300は、大口径ウェーハ上の薄膜の測定を目的とした専用のXRDツールであ...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメーターを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封...

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■ロータ型高出力X線発生装置と新設計入射X線モノクロメータを採用 ダイレクトTXRF測定法で遷移金属LLD10^8atoms/cm2レベルを実現。封入...

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■各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非接触で分析 ～200mmサイズまでのウェーハ上の各種薄膜の膜厚と組成を、同時に、非破壊、非...

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■300mm、200mmウェーハ上の各種薄膜の膜厚・組成を、同時に非破壊、非接触で分析可能な波長分散型蛍光X線分析装置 (WD-XRF) GEM300に対...

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■X線膜厚・密度測定装置XHEMISEX-2000 蛍光X線 (XRF) およびX線反射率 (XRR) による非接触、非破壊な膜厚・密度測定装置 ■XRR新光学系...

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■TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・300mmウェーハまで対応

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■VPD内蔵TXRFスペクトロメーター ・超高速金属汚染マッピング ・VPDによる最高感度 ・300mmウェーハまで対応

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■非破壊で転位などの結晶欠陥、表面への貫通転位やエピタキシャル層の欠陥などを検出 新しい高輝度微小X線光源とそれに合わせた特殊X線...

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1光子検出型ハイブリッドピクセル検出器を搭載した卓上型単結晶X線構造解析装置 ■最先端2次元半導体検出器を搭載 XtaLABminiIIは、光子...

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■波長の異なる線源を1台のシステムに搭載したXtaLABSynergyシリーズの最上位機種 2波長線源を搭載した単結晶X線構造解析装置は、無機物...

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■低分子試料の構造解析のための単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-iは、リガク独自の高精度κゴニオメーターとHPC (ハイブリッドフォトン...

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■単結晶X線回折分析のための強力で高速なシステム XtaLABSynergy-Rは、XtaLABSynergyシリーズのマイクロフォーカス回転対陰極型X線線源...

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■低分子・生体高分子構造解析のための高速単結晶X線回折装置 XtaLABSynergy-Sは、低分子、生体高分子の区別なく、使用する方の目的達成...

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■斜入射X線CD計測ツール ・GISAXSによるCD測定、X線反射率 (XRR) 測定による膜厚、密度、および粗さの測定などが可能です。 ・300mmウェ...

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■透過X線CD計測ツール ・TSAXSは、CD測定のためのインライン小角X線散乱法です。 ・最大300mmウェーハまで対応 ・最先端のデバイスマイ...

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■XRR、EDXRF、およびXRD計測ツール 組成および膜厚 (EDXRF) 、膜厚、密度、および粗さ (XRR) について、未パターン化およびパターン化さ...

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■パターンウェーハ対応の蛍光X線 (XRF) 、X線反射率 (XRR) およびX線回折 (XRD) によるインライン膜厚・密度モニター リガクのXTRAIAMF-...

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■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...

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■インラインHRXRD/XRR計測ツール ブランケットおよびパターン化されたウェーハのための高分解能XRDエピタキシャル膜特性評価。XTRAIAXD-...

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