東京ウエルズの外観検査装置
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株式会社東京ウエルズ
6面外観検査装置 TWA-4101/4102
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電子部品の「割れ」や「カケ」、「汚れ」といった問題を画像処理技術で検出し、良品不良品を選別する装置です。独自の搬送技術で世界でもトップクラスの処理...
株式会社東京ウエルズ
テストハンドラー MMVH
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主に半導体デバイスに対して、電気や光といった機能が正常に働くか性能を評価し、良否判定するための装置です。対象となる製品の特性に合わせ、幅広い検査項...
