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日本電子の半導体外観検査装置

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日本電子株式会社

JEM-ACE200Fハイスループット解析電子顕微鏡

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JEM-ACE200Fは操作ワークフローのレシピを作成することによって、オペレーターは直接電子顕微鏡操作を行わなくてもデータを取得できるシ...


日本電子株式会社

JSM-IT810ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡

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■自動観察分析機能"Neo Action" 直感的な操作で、誰でも簡単にSEM観察やEDS分析を自動化することができます。 ■SEM自動調整パッケージ ...




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