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中央電機計器製作所の半導体外観検査装置

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株式会社中央電機計器製作所

測定条件の柔軟さにより測定時間の短縮を実現 VSAウエハテスタ

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生産ライン上でベクトル周波数アナライザを用いてウエハの周波数特性を検査します。複数の電圧出力設定が可能です。 ■特徴 ・PXIシステ...


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