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東レエンジニアリングの半導体外観検査装置

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6 点の製品

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東レエンジニアリング株式会社

光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA SR-Ⅳシリーズ

■概要 業界最高速。半導体製造の前工程から後工程まで『ハイスピード』『ハイスペック』でウェーハの全数自動検査の要求にお応えします...


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東レエンジニアリング株式会社

光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA SR-IIIシリーズ

■概要 業界最高速。半導体製造の前工程から後工程まで『ハイスピード』『ハイスペック』でウェーハの全数自動検査の要求にお応えします...


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東レエンジニアリング株式会社

光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA FR-IIIシリーズ

■概要 業界最高速。半導体製造の前工程から後工程まで『ハイスピード』『ハイスペック』でウェーハの全数自動検査の要求にお応えします...


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東レエンジニアリング株式会社

電子線式半導体ウェーハパターン検査装置 NGR5000シリーズ

■概要 NGR5000 Seriesは、高性能化に向けて多層化が進むNANDメモリー半導体や、微細化が進むDRAMメモリー半導体およびロジック半導体製...


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東レエンジニアリング株式会社

電子線式半導体ウェーハパターン検査装置 NGR3500シリーズ

■概要 半導体デバイスの高性能化、多機能化に伴い、多様な検査、計測を組み合わせて製造プロセスを管理していくことが必要となってきて...


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東レエンジニアリング株式会社

Mini・Micro LED向け 蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ

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■概要 PL (フォトルミネッセンス) による蛍光画像を用いて従来の可視光外観検査では見えなかった結晶欠陥・クラック・発光不良を高速・...




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